真空衰減法無(wú)損檢漏儀-快訊

真空衰減法無(wú)損檢漏儀LEAK-S是濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器新設(shè)計(jì)研發(fā)的新型無(wú)損包裝密封性檢測(cè)儀器，適用于產(chǎn)品包裝，尤其是成品包裝進(jìn)行無(wú)損密封性檢測(cè)。儀器采用真空衰減法測(cè)試原理，*無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，對(duì)樣品進(jìn)行密封性檢測(cè)，檢測(cè)后的試樣、樣品仍然可以正常使用。

LEAK-S微泄漏密封性測(cè)試儀滿(mǎn)足ASTM F2338《使用真空衰變法無(wú)損檢驗(yàn)包裝緊密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》、USP 1207等標(biāo)準(zhǔn)，針對(duì)不同檢測(cè)樣品可選配對(duì)應(yīng)的測(cè)試腔，并且試驗(yàn)結(jié)束后，儀器自動(dòng)給出合格與不合格的判斷，無(wú)需人工參與，確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性與客觀性。除此之外，儀器支持局域網(wǎng)傳輸，具備在線(xiàn)升級(jí)功能，可滿(mǎn)足客戶(hù)的個(gè)性化需求。

真空衰減法測(cè)試原理

微泄漏密封性測(cè)試儀LEAK-S對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空，包裝物內(nèi)外形成壓力差，在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過(guò)漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi)，雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系，與標(biāo)準(zhǔn)值（建立的數(shù)學(xué)模型）進(jìn)行比較，從而判斷試樣是否泄漏。

技術(shù)參數(shù)

真空度：0--100kPa

檢測(cè)孔徑精度：＜5μm

設(shè)備操作：自帶HMI

內(nèi)部壓力：常壓

測(cè)試系統(tǒng)：真空傳感器技術(shù)

真空來(lái)源：外接真空泵

測(cè)試腔：根據(jù)樣品定做

檢測(cè)原理：真空衰減法/無(wú)損檢測(cè)

主機(jī)尺寸：500mmX360mmX320mm（長(zhǎng)寬高）

重    量：18Kg

環(huán)境溫度：20℃-30℃

相對(duì)濕度：≤80%,無(wú)凝露

工作電源：220V

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F2338使用真空衰變法無(wú)損檢驗(yàn)包裝緊密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法、USP 1207

真空衰減法無(wú)損檢漏儀-快訊