奧林巴斯微單X射線熒光（XRF）礦石檢測儀給予性能**的即時地球化學數據信息，用以土壤層重金屬超標，巖層成份和礦石品味和原素含量的剖析。奧林巴斯微單X射線熒光光（XRF）礦石檢測儀技術性的消息提升了精確測量原素的總數，提升了檢出限，并縮減了材料分析測試時間。

礦石檢測儀VantaXRF礦石檢測儀可用以金礦的實地檢測，金礦試驗室檢測和特制金礦商品的迅速精確測量勘查。

優勢：1.根據XRF礦石元素分析儀剖析土壤層重金屬超標，巖層和礦石中的原素，迅速表明潛在性的Au礦遍布狀況；2.根據應用XRF礦石元素分析儀預挑選試品，優先選擇試品挑選，剖析估算和選中打孔總體目標；3.根據XRF礦石元素分析儀制作結構類型圖，模型和矢量化，降低稀釋液和搞好金礦的回收利用；4.根據應用XRF礦石元素分析儀開展巖層地球化學的簡易和迅速巖石類型剖析；

礦石檢測儀用以礦物質勘查和礦體矢量素材的金剖析和檢測的攜帶式XRF礦石元素分析儀：

金礦床的有關地球化學特點

大部分金礦床都是有相應的地球化學特點。XRF礦石元素分析儀檢測儀能夠檢驗這種地球化學特點，使地理學家可以更好的掌握她們運行的地質環境系統軟件。典型性的金檢測的隨著原素包含As，Cu，Pb，Zn，Sb，Bi，Ag和W.選用Vanta VMR GeoChem方式的XRF礦石元素分析儀的檢驗低限：

*每束120秒的檢測時間，無影響的SiO2栽培基質; 相關檢驗低限（LOD）的進一步探討，客戶程序廣宇*OLYMPUS LOD文本文檔

礦石檢測儀用以檢驗金的XRF礦石元素分析儀大家都知道，便攜式XRF礦石元素分析儀不兼容在地質環境試品中立即適度性精確測量Au（比如，低ppm和ppb）。根據檢測實驗室的火實驗技術性一般被覺得是Au剖析的優選方式 。Au L級X射線坐落于X射線瑩光能譜儀的十分緊湊的范圍中。在該一部分光譜儀中，來源于別的原素（比如，As，Zn，W和Se）的影響能夠造成陽性Au測量。根據XRF礦石元素分析儀立即精確測量Au能夠在特殊狀況下完成，比如高含量的（> 5ppm）石英石脈自然環境（相對性無影響）或特制Au商品（在其中Au以十分高的濃度值存有）。因而：愈來愈多的Au當場開采試驗室已經應用XRF礦石元素分析儀替代試驗室的火實驗技術性。