1目的 

對超聲波金屬探傷儀進行內(nèi)部校準，確保其準確度、精密度符合使用要求。 

2適用范圍 

本規(guī)適用于本公司新購置和使用中的超聲波探傷儀與探頭的系統(tǒng)性能的檢驗。 

3校驗基準 

標準試塊CSK-ⅠA試塊及200/Ф2平底孔試塊。所用試塊必須是具有相應(yīng)認證企業(yè)生產(chǎn)，并具有合格證書 

4環(huán)境條件 

常溫、干燥環(huán)境，無特殊要求。 

5校準步驟 

5.1垂直線性 

5.1.1用5MHZ或其它頻率的常用直探頭，用壓塊將探頭固定在200/Ф2平底孔試塊上并對準Φ2孔（或其它試塊25mm底面）。調(diào)節(jié)探傷儀使示波屏上顯示的孔的反射波幅度為垂直刻度的99%（滿刻度），作為“0”dB，且衰減器至少有30dB余量； 

5.1.2調(diào)節(jié)增益，依次記下每衰減2dB時相應(yīng)的波高值 Hi，并將實測相對波高值填入表1中，直至底波消失。 

表1  衰減量△dB 0  2  4  6  8  10  12  14  16  18  20  22 24 26 理論相對波 高% 100 79.4 63.1 50.1 39.8 31.6 25.1 20.0 15.8 12.5 10.0 7.9 6.3 5.0 實測波高Hi 

實測相對波 高% 

偏差% 

上表中：理論相對波高%=Hi（衰減△dB后波高）/ H0（衰減0dB時波高）×99%；             實測相對波高%=10（- △i/20） ×99%。 

5.1.3計算垂直線性誤差  D= （|d(+)|+|d(-)|）×99%  式中  d(+)——正偏差；  d(-)——負偏差。  5.2水平線性

5.2.1將直探頭置于CSK-ⅠA上，對準25mm厚的大平底面。 

5.2.2調(diào)節(jié)探傷儀使示波屏上出現(xiàn)六次底波B1到B6，且使B1前沿對準0，B6對準10.0。記錄B2、B3、B4、B5與水平刻度值20、40、60、80的偏差值α2、        α3、α4、α5。 

5.2.3計算水平線性誤差  δ=│α max │/0.8b×99%  式中  αmax——α2、α3、α4、α5者；  b— ——示波屏水平滿刻度值。 

5.3動態(tài)范圍  調(diào)[抑制]至"0"。將滿幅度99%某波高用[衰減器]衰減到剛能識別的最小值所需衰減的分貝值就是動態(tài)范圍。 5.4靈敏度余量 

5.4.1儀器與直探頭靈敏度余量的測試 

a) 儀器[增益]至，[抑制]至"0"，[發(fā)射強度]至"強"，連接探頭，并使探頭懸空，調(diào)[衰減器]使電噪聲電平≤ 10%，記下此時的[衰減器]的讀數(shù)N1dB。  將探頭對準200/Ф2平底孔。調(diào)[衰減器]使Ф2平底孔回波高達50%，記下此時[衰減器]讀數(shù)N2dB。則儀器與探頭的靈敏度余量N為N=N2-N1（dB）。 

5.4.2儀器與斜探頭靈敏度余量的測試 

a) 儀器[增益]至，[抑制]至"0"，[發(fā)射強度]至"強"，連接探頭，并使探頭懸空，調(diào)[衰減器]使電噪聲電平≤ 10%，記下此時的[衰減器]的讀數(shù)N1dB。 b) 將探頭置于CSK-ⅠA試塊上，記下使R100圓弧面的次反射波達50%時的衰減量N2。則儀器與斜探頭的 靈敏度余量N為N=N2-N1（dB）。 

5.5始脈沖寬度 

5.5.1調(diào)節(jié)儀器的發(fā)射強度，使被測探頭阻尼電阻值接近等效阻抗值（無探頭波）。 

5.5.2將探頭置于CSK－IA試塊上厚度100mm處，調(diào)節(jié)儀器使次底波B1前沿對準水平刻度“5”，第二次底波B2前沿對準水平刻度“10”，并使B2的幅度為垂直刻度的50～80%； 

5.5.3將探頭置于對比試塊Z20－4上，移動探頭使孔波為，調(diào)節(jié)衰減器使孔波幅度為垂直刻度的50%，再把衰減器的衰減量減小12dB（即提高12dB），然后讀取從刻度板的零點至始波后沿與垂直刻度20%線交點所對應(yīng)的水平距離即為負載始波寬度，用鋼中縱波傳播距離表示； 

5.5.4將探頭置于空氣中，擦去表面耦合劑，讀取從刻度的零點至始波后沿與垂直刻度20%線交點所對應(yīng)的水平距離，即為空載始波寬度，用鋼中縱波傳播距離表示。 

5.6盲區(qū)  直探頭置于CSK-ⅠA試塊Ф50孔的兩側(cè)面，5mm側(cè)面處有獨立回波，則盲區(qū)小于或等于 5mm。若此處無獨立回波，而在另一側(cè)面（10mm）處有獨立回波，則盲區(qū)在5～10mm之間。若此處仍無獨立回波，則盲區(qū)大于是10mm。 

5.7分辯力 

5.7.1儀器與直探頭分辯力的測定 

a) [抑制]至"0"，探頭置于CSK-ⅠA試塊階梯的另一面，使示波屏上出現(xiàn)85、91、100三個反射回波A、B、C。 

b) 左右移動探頭,使85、91兩處回波幅度相等并以為20%～30%滿刻度. 

c) 調(diào)節(jié)[衰減器],使85、91兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度,此時[衰減器]所釋放的dB數(shù)即為以dB值表示的 超聲探傷系統(tǒng)的分辨力. 

5.7.2儀器與斜探頭分辯力的測定 

a) 斜探頭置于CSK-ⅠA試塊上，對準Ф50、Ф44、Ф40三階梯孔，使示波屏上出現(xiàn)三個反射波。 

b) 左右移動探頭,使Ф50、Ф44兩處回波幅度相等并以為20%～30%滿刻度. 

c) 調(diào)節(jié)[衰減器],使Ф50、Ф44兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度,此時[衰減器]所釋放的dB數(shù)即為以dB值表 示的超聲探傷系統(tǒng)的分辨力. 

5.8探頭性能測試 

5.8.1斜探頭入射點測試 

a) 將探頭放在CSK-ⅠA試塊上，使R100圓弧面回波達時斜楔底面與試塊圓心的重合點就是該探頭的入射點。 

b) 探頭前沿L就是R100減去探頭前端到圓弧面距離。 

5.8.2斜探頭折射角、K值測試 

a) 當(dāng)折射角為34°～66°時，探頭放在距Ф50遠面處，使用Ф50mm孔進行測定。 

b) 當(dāng)折射角為60°～75°時，探頭放在距Ф50近面處，使用Ф50mm孔進行測定。 

c) 當(dāng)折射角為74°～80°時，探頭放在距Ф1.5近面處，使用Ф1.5mm孔進行測定。 

d)  測出探頭前端到試塊端面距離L0。 

e)  K=（L+ L0-35）/30  5.8.3主聲束偏離及雙峰測試 

a) 斜探頭置于CSK-ⅠA試塊大平面處，對準試塊棱邊，移動并轉(zhuǎn)動探頭，找到棱邊波，其探頭側(cè)面平行線與棱 邊夾角就是主聲束偏離角。 

b) 斜探頭對準CSK-ⅠA試塊的Ф1.5mm孔或其它試塊的橫孔，移動探頭，看是否有雙峰。 

5.9校檢結(jié)果評定 

5.9.1垂直線性誤差不大于5%； 

5.9.2水平線性誤差不大于1%。 

5.9.3動態(tài)范圍不小于26dB。 

5.9.4儀器與直探頭靈敏度余量≥30 dB。 

5.9.5儀器與斜探頭靈敏度余量≥40 dB。  始脈沖寬度：對于頻率為5MHz的探頭，其占寬不得大于10 mm；對于頻率為2.5MHz的探頭，其占寬不得大于15 mm。 

5.9.6 盲區(qū)小于等于7mm. 

5.9.7儀器與直探頭分辯力一般要求≥30 dB。 

5.9.8儀器與斜探頭分辯力一般要求≥6 dB。 

5.9.8單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2°，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙 峰。