晶振的頻率測試方法

很多人用晶體與一個CMOS非門和兩個20~30p電容（有時可能需要在晶體兩端并聯一個10~20M歐姆電阻）組成基本晶體振蕩電路。只要使用頻率計測量到頻率就可認為晶體可以工作。晶體的參數主要有串聯等效電感、電阻和電容，需要專門儀器測量，要求不高的一般應用可以不必考慮。

但是在實際應用中,這種方法實在是沒有任何意義,對于一個工廠的品質部門來料檢測,或生產線上實際應用,那種方法是行不通的.我司生產的晶振測試儀,是專門針對石英晶振,陶瓷晶振,無源晶振,貼片晶振的一款檢測儀器.現介紹給大家.

CX-118A晶振測試儀產品簡介：

一、CX-118A是高性價比的晶振測試系統，采用微處理器技術，實現了智能化測量。本系列儀器采用倒數計數技術實現等測量。它測量高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能；中心頻率（標稱頻率）F0、分檔值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限頻率FU 、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。。

具有PPM測量功能，預置頻率F0可任意設置。該功能特別適合于晶體振動器生產企業，測試結果顯示直觀。

主要功能：頻率測量，PPM測量，周期測量，數據累計 ，功能設定

二、主要技術指標：

頻率測量范圍： 0.1Hz — 100MHz

頻率測量靈敏度：30mv

PPm測量：3KHz — 100MHz

PPm測量：≤1 PPm （1×10-6）

（可擴展0.1PPm ， 0.01 PPm）

中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設定

誤差設置范圍設定：± 1 — ± 999 PPm任意設定。

閘門設置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定，

1檔閘門1ms — 10s可設，

每1mS為一階梯任意設定。

周期測量范圍：100 ms — 10 s

晶振穩定性：5 ×10-7 / 日