涂層厚度是一個重要的工藝參數，在產品質量、過程控制和成本控制中都發揮著重要的作用。現在，人員可以利用許多不同種類的儀器和方法來測量涂層或薄膜的厚度。而在選取測量方法時需要考慮到許多因素，包括涂層的類型、基體材料、涂層厚度范圍、被測件的形狀和尺寸以及測量成本等。
涂層厚度測量一般有測量法，例如磁性測量、渦流測量、超聲波測量以及千分尺測量等；此外還有破壞性的測量法，例如橫斷面測量法和重量分析法等。對于粉末和液體狀涂料，在其干燥固化前同樣可以采取一些方法對其薄膜厚度進行測量。下面我們就來盤點一下那些常用的測量儀器與方法。

1、適用范圍

磁性測厚計是一種測量法，通常用于測量鐵基底板上非磁性涂層的厚度。鋼和鐵上大多數涂層都是以這種方式測量的。 

2、操作原理 

磁性測厚儀大多使用的都是兩種操作原理中的一種：磁性拉伸或磁/電磁感應原理。 

(1) 磁性拉伸式測厚儀

磁性拉伸式測厚儀用到的主要是一個磁鐵、校準彈簧以及一把刻度尺。磁鐵與磁性鋼基體之間的吸引力會把這兩者拉在一起，隨著分離兩者的涂層厚度增加，磁鐵變得容易拉出。
因此，涂層厚度主要就是根據這種拉拔力來測量。較薄的涂層一般具有大的磁引力，而較厚的薄膜涂層則具有相對較小的磁引力。磁性拉伸式測厚儀對于測量樣品的表面粗糙度、曲率、基底厚度以及金屬合金的組成成分。
磁性拉伸式測厚儀簡單、便宜并且便于攜帶，通常不需要校正調整。在生產過程中如果要少量讀數，它們將是一種測量解決方案。
拉伸式測厚儀通常呈鉛筆型或回滾式表盤型。鉛筆式機型使用的是一個安裝在螺旋彈簧（垂直于涂層表面）上的磁鐵。
大多數鉛筆式拉伸式測厚儀都使用較大的磁鐵，并且設計在一兩個能夠補充部分重力影響的位置工作。通過使用微小的，磁鐵可以將其制成質量更好的版本，用于測量面積較小或難以達到的表面。當該測厚儀指向下、向上或水平公差在±10％時，三重指示器可保障測量的精確性。
回滾式表盤型是磁性拉伸式測厚儀常見的形式。磁鐵連接到旋轉平衡臂的一端并連接到校準的游絲上。通過用手指旋轉表盤，彈簧增加磁體上的力并將其從表面拉出。
這些測量儀易于使用，并具有平衡臂，使其能夠在位置上工作，與重力無關。涂料承包商在粉末涂敷操作時使用較多，測量偏差在±5%左右。

(2) 磁/電磁感應測厚儀

磁感應測厚儀（如圖3所示），其使用永磁體作為磁場源，利用霍爾效應發生器或磁動電阻器來感測磁體磁極處的磁通密度。
電磁感應測厚儀使用交變磁場，采用纏繞有細線圈的柔軟鐵磁棒來產生磁場。另一根線圈則用于檢測磁通量的變化。
這些電子儀器可以測量磁探針表面附近的鋼表面上的磁通量密度變化。探頭表面的磁通密度的大小與鋼基板的距離直接相關。因此，通過測量磁通密度，就可以涂層厚度。
這類電子式電磁計具有許多的形狀和尺寸，它們通常使用恒壓探頭來提供不受操作者主觀影響的數據，測量讀數會清晰的顯示在液晶顯示器（LCD）上。它們可以選擇存儲測量結果或者對讀數進行即時分析，并將結果輸出到打印機或計算機上進行下一步檢查。該類儀器的測量偏差一般為±1％左右。
為了獲得準確的測量結果，操作人員應當仔細遵循制造商的使用說明。測試方法可參考D7091，ISO 2178以及ISO 2808等標準。

渦流測厚儀一般用于測量位于非鐵金屬基板上的絕緣涂層的厚度，該方法同樣屬于一種測量法。
該儀器使用能夠傳導高頻交流（1MHz以上）的細線線圈在儀器探針的表面產生交變磁場。當探針靠近導電表面時，交變磁場將在該表面上形成渦流。基體材料的特性以及探頭和基體的距離（也即是涂層厚度）會影響渦流的大小。
該渦流又會產生一種相對電磁場，該電磁場可由勵磁線圈或另一個相鄰的線圈感測出來。
渦流測厚儀外觀以及操作均類似于電磁感應測厚儀。這類儀器能夠測量非鐵金屬上的涂層厚度。
與電磁感應測厚儀一樣，其通常使用恒壓探頭并在LCD屏幕上顯示測量結果。此外，它們還可以選擇存儲測量結果或者對讀數進行即時分析并輸出到打印機或計算機進行下一步檢查。
測量偏差一般為±1％左右。測試對表面粗糙度、曲率、基底厚度，金屬基底材料的類型以及其與邊緣的距離較為敏感。測試方法可以參考ASTM B 244，ASTM D 7091以及ISO2360等標準。
現在，許多測厚儀都將電磁感應原理和渦流原理結合到一個體系中。一些簡單的測量任務可以根據需求自動從一種操作原理切換到另一種原理以測量大多數金屬上的涂層厚度。這些整合體系已經受到了油漆業和粉末涂布業的歡迎。

超聲波測厚儀中所使用的超聲回波脈沖技術一般用于測量非金屬基體材料（例如塑料、木材等）表面上的涂層厚度，而且，該方法屬于一種測量方法，不會對測量樣品造成損壞。
該儀器的探頭包含一個超聲波換能器，能夠發出脈沖并通過涂層。脈沖然后從基體材料反射回換能器并轉換為高頻電信號。通過對回波波形進行數字化分析，人們可以知道涂層的厚度。在某些情況下，利用該儀器還可以測量多層系統中的某一單層厚度。
該方法的測量標準偏差一般在±3%左右，測量方法可以參考ASTM D6132標準。

人們有時還會用千分尺來測量涂層的厚度。它們具有測量涂層/基體組合的優點，但缺點是需要接觸到基底面。

接觸涂層的上表面和基底的下表面有時是困難的，并且它們通常不能準確測量出某些薄涂層的厚度。因此，利用該方法進行兩次測量，一次是在含有涂層的表面上進行測量，另一次則是在沒有涂層的表面上進行測量。這兩個度數的差值，也即是測量的高度差，就是該涂層的厚度大小。在一些粗糙表面上，該方法一般在高處測量涂層的厚度。

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