Labthink蘭光 | 薄膜測厚儀產(chǎn)品介紹

　　Labthink蘭光生產(chǎn)與供應(yīng)薄膜測厚儀，歡迎您咨詢薄膜測厚儀的詳細(xì)信息！Labthink蘭光供應(yīng)的薄膜測厚儀有不同的型號，不同型號的薄膜測厚儀應(yīng)用范圍與功能會有細(xì)微的差別，我們將會為您提供*、全面的薄膜測厚儀方案。Labthink蘭光，致力于通過包裝檢測技術(shù)提升和實(shí)驗(yàn)室檢測儀器研發(fā)幫助客戶應(yīng)對包裝難題，助力包裝相關(guān)產(chǎn)業(yè)的品質(zhì)安全。了解關(guān)于更多相關(guān)信息，您可以登陸濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司網(wǎng)站查看具體信息或致電咨詢。Labthink蘭光期待與行業(yè)中的企事業(yè)單位增進(jìn)技術(shù)交流與合作。

C640測厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測量。

C640測厚儀設(shè)備技術(shù)特征：
1、專業(yè)——Labthink在不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術(shù)積累中推陳出新，使用超高精度的位移傳感器、科學(xué)的結(jié)構(gòu)布局及專業(yè)的控制技術(shù)，實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的測試穩(wěn)定性、重復(fù)性及精度。
2、高效——采用高效率、自動化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，有效簡化人員參與過程；智能的控制及數(shù)據(jù)處理功能，為用戶提供更便捷可靠的試驗(yàn)操作和結(jié)果處理。
3、智能——搭載Labthink新一代版控制分析軟件，具有友好的操作界面、智能的數(shù)據(jù)處理、嚴(yán)格的人員權(quán)限管理和安全的數(shù)據(jù)存儲；支持Labthink*的DataShieldTM數(shù)據(jù)盾系統(tǒng)（可選配置），為用戶提供極為安全可靠的測試數(shù)據(jù)和測試報(bào)告管理功能。

測試原理：
將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

C640測厚儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國《藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范》（GMP）對軟件的有關(guān)要求（可選配置）

應(yīng)用材料：
基礎(chǔ)應(yīng)用：
薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測定
紙——各種紙張、紙板、復(fù)合紙板等的厚度測定
擴(kuò)展應(yīng)用：
金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測定
瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測定
紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測定
非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛(wèi)生巾、醫(yī)用kou罩等的厚度測定
其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測定

C640測厚儀技術(shù)指標(biāo)：
① C640M型號參數(shù)：
測試范圍（標(biāo)配）：0～2mm
分辨率：0.1μm 
重復(fù)性：0.8μm
測量范圍（選配）：0～6、0～12mm
測量間距：0～1000mm（可設(shè)定）
進(jìn)樣速度：1.5～80mm/s（可設(shè)定）
附加功能：
自動進(jìn)樣機(jī)：可選配置
DataShieldTM數(shù)據(jù)盾：可選配置
GMP計(jì)算機(jī)系統(tǒng)要求：可選配置
測量方式：機(jī)械接觸式
測量壓力及接觸面積：
薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
電源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）
凈重：26kg
② C640H型號參數(shù)：
測試范圍（標(biāo)配）：0～2mm
分辨率：0.1μm 
重復(fù)性：0.4μm
測量范圍（選配）：0～6、0～12mm
測量間距：0～1000mm（可設(shè)定）
進(jìn)樣速度：1.5～80mm/s（可設(shè)定）
附加功能：
自動進(jìn)樣機(jī)：可選配置
DataShieldTM數(shù)據(jù)盾：可選配置
GMP計(jì)算機(jī)系統(tǒng)要求：可選配置
測量方式：機(jī)械接觸式
測量壓力及接觸面積：
薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
電源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）
凈重：26kg

CHY-C2A測厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度高精度測量。

CHY-C2A測厚儀技術(shù)特征：
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標(biāo)定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實(shí)時顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時顯示、自動統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

CHY-C2A測厚儀技術(shù)指標(biāo)：
負(fù)荷量程：0～2 mm（常規(guī)）
0～6 mm；12 mm （可選）
分辨率：0.1 μm
測量速度：10 次/min （可調(diào)）
測量壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg

儀器配置：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
選購件：專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)