數據分析結果表明, 染污絕緣子串Uf 與ρESDD、ρNSDD 之間呈三維曲面關系, 隨著ρESDD和ρNSDD 的增加, Uf 逐漸下降; 在ρESDD、ρNSDD較小時Uf 下降較快, 隨著ρESDD 和ρNSDD 的增加, Uf 下降趨勢變緩, 這與分別考慮ρESDD 及ρNSDD 作用時, 對Uf 的影響是類似的。
灰密和鹽密均對絕緣子污閃電壓有影響。XP - 160 瓷絕緣子的灰密影響特征指數為0. 14 , 鹽密影響特征指數為0. 24 , 鹽密影響是灰密影響的1. 71 倍, 即鹽密影響大于灰密影響。
(1) 在人工污穢試驗中, 染污絕緣子串閃絡電壓與鹽密和灰密分別呈冪函數關系, 并且鹽密和灰密對閃絡電壓的影響是相互獨立的。
(2) 在人工污穢試驗中, 不僅應考慮鹽密的影響, 也應考慮灰密的影響。
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