一、用途
用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業，國防工業、航天、兵工業、電子芯片IC、老化試驗箱 半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具。

    二、結構特點:
產品外形美觀、結構合理、工藝*、選材考究。
設備分為高溫室、低溫室、測試室三部分,采*之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物*靜止，應用老化試驗箱冷熱風路切換方式將冷、熱溫度導入測試區實現冷熱沖擊測試目的。
采用觸控式液晶LCD顯示人機介面控制器，的計測裝置, 操作簡單, 學習容易, 穩定可靠,中，英文顯示完整的系統操作狀況、執行及設定程序曲線。
具96個試驗規范獨立設定,沖擊時間999小時59zui大分鐘, 循環周期1~999次可設定, 可實現制冷機自動運轉，zui大程度上實現自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行。
箱體左側具?50mm之測試孔1個，可供外加電源負載配線測試部件。
可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫老化試驗箱的功能。