美國4D Technology公司成立于2002年，主要致力于為航天、天文、光學制造、半導體及數(shù)據(jù)存儲等領(lǐng)域開發(fā)高精度的檢測儀器。該公司的動態(tài)相移測量技術(shù)改變了傳統(tǒng)光學干涉儀器對使用環(huán)境的苛刻要求，大大拓寬了儀器的應用范圍。目前，4D Technology擁有一支在激光干涉測量、光學儀器、軟件開發(fā)、質(zhì)量控制、技術(shù)支持方面的專業(yè)化團隊
美國4D Technology公司推出的動態(tài)激光干涉儀，采用新的瞬時相移干涉技術(shù)（SPSI），大大縮短了干涉測量時間，不僅能達到傳統(tǒng)相移干涉儀的精度和可靠性，而且無需普通干涉測量 的防振臺；適合于大口徑、長焦距光學元件的測量，可以應用于光學系統(tǒng)現(xiàn)場檢驗、復雜/惡劣環(huán)境的光學檢驗，并能進行連續(xù)的動態(tài)測量，甚至對光學表面的變化過程進行測量。4D Technology的產(chǎn)品一經(jīng)推出，便在激光、空間光學、天文光學等領(lǐng)域得到了迅速的應用。
4DTechnology產(chǎn)品系列：
菲索型干涉儀 FizCam系列
口徑：100mm 到 800mm                      
包括F1500、F2000、F3000型
適合于平面、球面、凸球面的遠程測量
可使用標準菲索鏡頭
泰曼格林型干涉儀 PhaseCam系列
包括P4020、F5030型，及多波長
適合于長焦距測量，
鏡頭豐富，便于移動
可擴展用于真空或超快測量
WaveCam系列
用于DVD讀寫鏡頭、光纖光束質(zhì)量
PhaseCamMW多波長干涉儀 
適合于復雜表面測量，如子鏡拼接表面等
ESPI電子散斑干涉儀
適合于非光學表面的形變測量