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目前市場上測量線路板（如：PCB、FPC）與五金行業（如：連接器、端子、汽車零部件、通訊行業等）鍍金、銀、鎳、錫、鈀、銅、等金屬厚度，怎么選擇市場上如此多的膜厚儀？
首先讓大家了解一下市場有哪些膜厚儀品牌；*有：美國博曼（BOWMAN）、牛津儀器（后被日本日立收購）、德國菲希爾、二線品牌：日本精工、韓國先鋒、韓國EDX；三線品牌主要是國內儀器：禾苗、華唯、天瑞，上海六一等。 *美國博曼、牛津、菲希爾在市場上占有率非常高，價格22-30萬左右，甚至博曼與菲希爾高瑞產品有100萬以上的高精密測厚儀器，主要是應用測量薄金、鎳鈀金等鍍層又薄測量面積又小的產品，而美國博曼的產品壽命與質量；二線品牌相對較少，主要提供給日韓企業使用，三線品牌因為是國產，價格區間在10-15萬元以內，測量的鍍層比較簡單，只能測量很厚的鍍層，如鐵與鍍鎳、鍍銀，像鍍薄金儀器測量數據與其它機構或客戶相差太大，客戶購買后體驗很差。
下面列出三個*測厚儀的對比：
| 型號 | X-Strata920 | BA-100 | XDLM-PCB 200 |
| 品牌 | 原牛津儀器（Oxford)， 2017年被日本日立(HITACHI)收購 | 美國博曼（BOWMAN） | 德國菲希爾（Fischer) |
| 產地（測試主機） | 上海 | 美國佛羅里達州 | 江蘇南通 |
| 供應商 | 東莞(HITACHI總代理） （2016年有位員工從廣東正業離職去，所以才開始代理牛津） | 深圳鼎極天（BOWMAN總代理） (原為牛津總代理） | 廣東正業（Fischer總代理） （原為牛津總代理) |
| 圖片（半自動臺） | X-Strata920(MWS)固定式樣品臺半自動臺： 樣品臺高度固定，測量樣品高度不超過33MM，外形尺寸：寬407*深770*高305mm | BA-100-SFF半自動臺：Z軸自動控制方式，Z軸行程132mm；樣品倉尺寸（高*寬*深mm）：140*310*340；機箱（高*寬*深mm）：450*450*600 | XDLM-PCB 200半自動臺：固定式樣品平臺，帶有手動彈出功能，Z軸需手動，可用樣品臺平臺面積600*600mm，有加長樣品臺時1200*900mm；外部尺寸(寬*深*高）：570*760*650mm；帶有加長平臺時：1200*1050*450mm |
| 圖片（全自動臺） | X-Strata920（AM）全自動臺：可提供對樣品的自動和編程控制；樣品臺尺寸：寬610*深560mm；樣品臺移動行程：178*178mm；測量樣品高度不超過33mm； | BA-100-MVM全自動臺：可提供對樣品的自動和編程控制；自動Z軸行程132mm；XY樣品臺面積有350*400mm\500*600mm\600*600mm三種可選；XY行程：127*152mm； | XDLM-PCB210自動臺：可編程XY平臺，帶有自動彈出功能，但Z軸需手動，樣品臺面積：600*600mm；XY平臺移動到大時1000*1265*470mm |
| 原理 | X射線熒光（XRF）儀器的工作原理是對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量的分析 | X射線熒光（XRF）儀器的工作原理是對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量的分析 | X射線熒光（XRF）儀器的工作原理是對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量的分析 |
| 應用范圍 | 線路板行業，汽車行業，緊固件，電子元器件，端子連接器，半導體，能源行業，陶瓷衛浴、貴金屬等 | 線路板行業，汽車行業，緊固件，電子元器件，端子連接器，半導體，能源行業，陶瓷衛浴、貴金屬等 | 線路板行業，汽車行業，緊固件，電子元器件，端子連接器，半導體，能源行業，陶瓷衛浴、貴金屬等 |
| 測量元素范圍 | 22號鈦元素-92號鈾元素，可同時分析合金材料內多25種元素含量 | 13號鋁元素-92號鈾元素，每層多可含10種元素，可同時分析合金材料內多25種元素含量 | 17號氯元素-92號鈾元素，可多同時測量24種元素 |
| 分析能力 | 鍍層：多同時測5層（4層鍍層+基材） | 鍍層：多同時測5層（4層鍍層+基材） | 鍍層：多同時測5層（4層鍍層+基材） |
| X射線管 | 微聚焦型射線管鎢靶 標定功率50瓦，設計額定功率200瓦。 不銹鋼管，光管使用2年后容易出現漏油、掉電流 | 微聚焦型射線管鎢靶 標定功率50瓦，設計額定功率300瓦。 銅管體設計大功率更高，銅管體相比不銹鋼管體散熱性能好，壽命更長一般使用3-7年 | 標準射線管鎢靶(沒有微聚焦）發出的斑點較大 |
| X射線照射方向 | 從上往下 | 從上往下 | 從上往下 （菲希爾XULM型號從下往上測量，建議不要購買、這種測量方式目前市場早已淘汰） |
| 激發電壓 | 45Kv固定，不能切換 | 0-50Kv連續可調激發條件可根據實際樣品情況進行優化，獲取好的測量性能。 | 30Kv、40Kv、50Kv三種固定切換 |
| 探測器類型 及分辨率 | 封氣比例接收器（PC） 壽命一般為3-5年 分辨率約900eV （比例接收器，能量分辨率很低，因為是氣體探測器，容易受環境溫濕度影響,時常出現干擾，儀器必須經常用標準片校準，目前市場上已漸漸淘汰比例接收器)。 以下是性能探測器排名，PC探測器性能較低，但價格便宜，SDD性能好，價格貴。 | 硅-PIN半導體探測器（PIN） 壽命一般為10年以上 （搭載高分辨率的固態探測器，能量分辨率更高，測量相鄰元素更，儀器無需二次濾波器，峰位長時間保持穩定，無需頻繁地用標準片校準儀器） 使用硅PIN探測器元素分辨率好，有效排除元素之間的干擾。 圖例：兩種探測器對比紅色為封氣比例接收器所獲得的譜峰，綠色為硅PIN半導體探測器所獲得的譜峰。 封氣比例接收器所獲取的譜峰重疊現象嚴重。 | 封氣比例接收器（PC） 壽命一般不3-5年 分辨率約900eV （比例接收器，能量分辨率很低，因為是氣體探測器，容易受環境溫濕度影響, 另外Fischer 只有在XDAL型號配置了半導體探測器售價60萬以上） |
| 系統預熱時間 | 由于采用氣態探測器，受溫濕度影響大，需要等探測器穩定后才能開始測量，預熱時間需要超過30分鐘。（預熱時間長，探測器不穩定，結果可能隨溫濕度產生變化） | 射線管在出廠前經過嚴格調教，且采用半導體探測器，預熱時間短，開機后5分鐘內可以開始測量。 | 由于采用氣態探測器，受溫濕度影響大，需要等探測器穩定后才能開始測量，預熱時間需要超過30分鐘。（預熱時間長，探測器不穩定，結果可能隨溫濕度產生變化） |
| X射線光程 （射線管窗口離開樣品表面距離） | 大于4英寸 | 小于2英寸 （BA100采用了新的技術，具有更緊湊的光學結構，X射線光程短，減少射線能量損失，優化樣品激發效果，改善測量重復性） | 大于4英寸 |
| 準直器 | 圓形：0.1、0.15、0.2、0.3mm； 矩形：0.05 x0.25、0.05 x0.05、0.05x0.25 | 圓形：0.1、0.2、0.3、0.6mm； 矩形：0.025x0.25、0.05x0.05、0.05x0.25 | 圓形：0.1、0.2mm； 矩形：0.3*0.05 |
| 成像系統 | 30倍光學放大 （可選50倍） | 30倍光學放大 （50倍可選） | 20倍光學放大 |
| Z軸聚焦方式 | 自動激光聚焦 | 自動激光聚焦 | 手動聚焦，每次測量需要人工調試，聚焦效率低,不同人測量數據不一樣 |
| 樣品倉 | 開槽式 | 開槽式 | 開槽式 |
| Z軸控制及XY平臺 | 半自動臺：Z軸自動控制、XY平臺需手動； 全自動臺：Z軸自動控制、XY平臺可自動編程 | 半自動臺：Z軸自動控制、XY平臺需手動； 全自動臺：Z軸自動控制、XY平臺可自動編程 | 半自動臺：Z軸需手動、XY平臺需手動； 全自動臺：Z軸需手動、XY平臺可自動編程 |
| 濾波器 | 鈷（Co），用于去除銅（Cu）對鎳（Ni）的干擾 | 4 位置一次濾波器，自由切換 | 無 |
| 信號及視頻處理 | 需要在電腦內部插入的信號處理卡（MCA卡）及的視頻卡； MCA卡價格15000-18000元整，視頻卡價格2500-3000元整，因為需要電腦提供的插槽。電腦發生故障需要更新換代，必須從供應商購買電腦，電腦6000-7000元整 | 無需在電腦內部插入的信號處理卡和視頻卡， 客戶可以隨時更換電腦，日后電腦升級換代不受任何限制，客戶可直接在京東上自行購買電腦更換。 | 需要在電腦內部插入的視頻卡，視頻卡的價格2500-3000元整，并且需要電腦提供的插槽。萬一電腦發生故障需要更新換代，十分麻煩，只能從供應商高價購買電腦，電腦價格6000-7000元整 |
| 儀器與電腦連接 | 儀器和電腦之間有5根連接線，可能會帶來干擾源(其中AB線、波譜線、視頻線需要每半年更換、否則經常出現干擾）尤其是當機器使用了兩、三年后，經常發生由于信號干擾導致的雜波，影響測量。連接線太多，導致系統不穩定。電源線和數據線之間的干擾、數據線和數據線之間的干擾，在客戶應用要求不斷嚴格，鍍層厚度越來越薄的趨勢下，這些不穩定的因素和干擾將直接影響測量重復性 | 儀器和電腦之間僅需一根USB線連接，簡潔、方便，杜絕信號干擾源。（只有一根電源線與一根USB連接線） | 儀器連接線有3根，較少，同樣減少了干擾源 |
| 軟件界面及用戶體驗 | 軟件在八、九十年代研發至今，沒有更新，基于傳統的技術，對顯示器的分辨率有依賴 | 采用新技術建立的用戶界面，簡潔、清晰，操作方便。 | 軟件在八、九十年代研發至今，一直不更新基于傳統的技術，界面繁瑣、對顯示器的分辨率有依賴 |
| 測量報告 | 需要點擊幾個按鈕才能導出報告，只能保存一張圖片，并且需要用手工進行插入 。 | 一鍵導出，并且自動保存每一個測量點的圖像，方便客戶跟蹤實際測量情況 | 不詳 |
| 標準片庫 | 軟件不具備標準片庫功能 | 軟件標準配備標準片庫功能、使用簡單，節約時間 （標準片庫的好處： 1、方便對標準樣品進行管理和維護，記錄標準片的信息、校準日期等 2、存儲常用元素的波譜，方便校準檔案的建立和維護） | 軟件內置標準片庫、使用時較為復雜 （標準片庫的好處： 1、方便對標準樣品進行管理和維護，記錄標準片的信息、校準日期等 2、存儲常用元素的波譜，方便校準檔案的建立和維護） |
| 校準檔案建立 | 權限開放給客戶，客戶可以根據實際情況隨意添加新的校準檔案和分析程序 | 權限開放給客戶，客戶可以根據實際情況隨意添加新的校準檔案和分析程序 | 權限不開放給客戶，廠商在客戶增加檔案時收取費用，靈活性低，使用成本高（除非雙方合作較多，供應商利潤較高的情況下，才會遠程視頻協助安裝） |
| 測量能力 | 由于探測器分辨率差、背景高，X射線信號光程大，信號衰減明顯，當Au層厚度低于0.05微米（50納米）時，測量重復性差，或者無法給出測量數據；由于硬件、軟件的限制，當總厚度超過30um時，測量重復性明顯變差，或者無法得到測量數據，提示OOR（八十年代的產品CMI900，技術缺乏革新，2010年換了個外殼X-Strata920又繼續在市場上賣，2017出售給日本日立性能無任何改善，在未來幾年有被停產的壓力） | 借助好的半導體探測器，優化的光學設計，可以實現數個納米的鍍層厚度檢測，比如Au/Pd/NiP/CuPCB應用，當Au厚度僅有5納米，Pd厚度只有20納米時，仍然可以獲得相對穩定的數據；通過調整測量焦距以及配合不同規格的一次濾波器，可實現較厚的厚度測量，比如Cr/Ni/Cr/ABS應用，總厚度可以達到超過60um。 | 由于采用氣態探測器，在測量薄金時，重復性較差。 |
| 可變焦距測量 | 固定單一焦距 | 自動臺可支持多種測量焦距（可變焦距測量可方便實現對凹形樣品的測量。) | 固定單一焦距 |
| 服務點 | 東莞、上海、北京 | 深圳、上海、成都、西安 | 東莞、江蘇 |
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