如何檢定電子天平|電子天平檢定方法
一、電子天平種類：
1、超微量電子天平：超微量天平的zui大稱量是2至5g，其標尺分度值小于（zui大）稱量的10-6，如Mettler的UMT2型電子天平等屬于超微量電子天平。
2、微量天平：微量天平的稱量一般在3至50g，其分度值小于（zui大）稱量的10-5，如Mettler的AT21型電子天平以及Sartoruis的S4型電子天平。
3、半微量天平：半微量天平的稱量一般在20至100g，其分度值小于（zui大）稱量的10-5，如Mettler的AE50型電子天平和Sartoruis的M25D型電子天平等均屬于此類。

4、常量電子天平：此種天平的zui大稱量一般在100至200g，其分度值小于（zui大）稱量的10-5，如Mettler的AE200型電子天平和Sartoruis的A120S、A200S型電子天平均屬于常量電子天平。
5、分析天平：其實電子分析天平，是常量天平、半微量天平、微量天平和超微量天平的總稱。
6、 精密電子天平：這類電子天平是準確度級別為Ⅱ級的電子天平的統稱。

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二、電子天平計量檢定方法：

檢定一：重復性檢定

重復性是描述電子天平在相同的測量條件下,對同一載荷多次稱量結果之間的差值,是衡量電子天平稱量結果能否達到一致的能力。重復性檢定應在空載和加載狀態下進行,對e≥5d的電子天平同樣允許省略數字化整誤差的修正過程而直接用天平示值減去砝碼質量值來計算重復性誤差。

檢定二：各載荷點的zui大允許誤差的檢定

電子天平的zui大允許誤差是指天平的線性度,它與電子天平的準確度等級和稱量有關,其目的是判定電子天平的示值誤差是否在規定的范圍內。通常,示值誤差(E)由下式來確定:E=I-I0,I為天平指示值,I0為標準砝碼的標稱值。對電子天平來說,這樣計算示值誤差是不夠嚴密的。我們知道,電子天平是數字顯示方式,其示值的變化不是連續的,而是以階躍形式進行。

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檢定三：靈敏度和鑒別力的檢定

靈敏度是指對于一個給定的重量變化,衡器的指示值相應能發生的示值變化。而鑒別力則是表征衡器對微小載荷的反應能力,也即要引起衡器示值有一個可發覺的變化需要添加的重量是多少。對電子天平來說,鑒別力是一個有意義的概念,而靈敏度則沒有實際意義,因此檢定員不要因為規程中將二者列在一起說明而產生誤解。

對使用中的電子天平鑒別力的檢定,通常允許作簡化處理,即選擇在空載或全載時處于平衡狀態的天平上,用質量為1.4d的小砝碼,輕緩地加放在天平上或從其上拿下,此時原來的天平示值應有變化。一般來說,使用中的電子天平的鑒別力不會有問題,所以規程中指出:對于d≤1mg或e>2d的電子天平,允許免檢其鑒別力。

檢定四：偏載檢驗　　

偏載檢驗又稱四角誤差檢驗,它是通過將載荷放置在稱盤上不同的位置來檢驗天平提供一致結果的能力。在實際檢定工作中,應根據電子天平的使用要求來確定檢驗載荷。

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