錦州精微儀表有限公司制造的鉑線外繞整體燒結(jié)鉑電阻號：（ZL02210746.0）是綜合下兩種技術(shù)的優(yōu)缺點取長避短的綜合產(chǎn)物。體現(xiàn)了抗震、穩(wěn)定、體積小，不自熱、壽命長、引線強度高等優(yōu)點。

        目前我公司客戶過千家，都是回頭客，我們的產(chǎn)品重在質(zhì)量。有信心為各行各業(yè)做出更多貢獻。

 一、整體燒結(jié)外繞線式陶瓷鉑電阻
　　該產(chǎn)品是楊忠林廠長根據(jù)線繞式鉑電阻抗過載能力強、自熱小、符合計量要求等優(yōu)點，結(jié)合薄膜鉑電阻體積小，抗振、響應(yīng)速度快等優(yōu)點進行了綜合設(shè)計，經(jīng)過大量試驗于1998年投入生產(chǎn)的新型鉑電。
　　投產(chǎn)至今（1998年—2011年）從用戶的使用情況看已充分證明了該型鉑電阻的高可靠、長壽命的品質(zhì)。
 

        該鉑電阻在結(jié)構(gòu)上（如圖）采用了引線在反端與電阻體燒結(jié)在一起，貫穿電阻體引出，引線與電阻體燒結(jié)處的陶瓷避開拉應(yīng)力使引線堅固，電阻體與引線燒結(jié)處在外力作用下不至于開裂；另一方面的優(yōu)點體現(xiàn)在鉑絲繞在電阻體外表面且用陶瓷覆蓋，燒為一體，使得該元件的反應(yīng)速度快；由于鉑絲分部在電阻體的外表面，有效散熱面積大、皮薄“0.1mm”散熱快，所以自熱系數(shù)小；由于鉑絲被約束在陶瓷的剛性體內(nèi)故不怕振動，長期穩(wěn)定性及壽命都好；又由于元件的燒結(jié)溫度較高（800℃以上）鉑絲的膨脹系數(shù)遠大于陶瓷的膨脹系數(shù)，在燒結(jié)溫度時鉑絲取得zui大的體積，隨著溫度的降低陶瓷固化在鉑絲外圍形成殼體，在使用溫度范圍內(nèi)從微觀上講，鉑絲屬于工作在一絲一腔的無應(yīng)力的自由狀態(tài)。如元件通入較大的電流，只有鉑絲加熱體積膨脹后仍在殼體容積以內(nèi)，不破壞殼體，元件的固有參數(shù)不變。這也是該型鉑電阻能勝任式流量傳感器的原因所在（參見熱式流量傳感器）。
　　1、　與薄膜鉑電阻（參見薄膜鉑電阻）相比，抗過載能力特強、自熱小，長期穩(wěn)定性、線性都優(yōu)于薄膜電阻，抗振性相當(dāng)，體積比薄膜電阻稍大，響應(yīng)時間稍慢。但zui小值 Φ0.55mm的元件在快速響應(yīng)場合也滿足＜10～20ms要求。如式空氣流量計、風(fēng)速計等（獲2008年末錦州市科技攻關(guān)一等獎）。
        2、與內(nèi)繞式陶瓷鉑電阻（參見內(nèi)繞式鉑電阻）相比，抗過載能力、抗振能力、響應(yīng)速度、長期穩(wěn)定性、及壽命有明顯優(yōu)勢，自熱系數(shù)相近。
　　3、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)為JJG229-2010本標(biāo)準(zhǔn)符合IEC751:1983的電阻-----溫度關(guān)系公式及分度表(Pt100分度表、Pt1000分度表)。
 
二、膜式鉑電阻存在的缺陷
 

        這是目前用得zui多的且故障zui多的一種叫薄膜鉑電阻，為什么用的zui多呢？因為它進口便宜啊，商家可以得到利益的zui大化。所以*zui大。
       他的zui大缺點是穩(wěn)定性太差，抗溫度交變能力差，溫度范圍窄；其根本原因是陶瓷基片只能用三氧化二鋁（AI2O3）膨脹系數(shù)是（6.8～8）×10-6，而鉑的膨脹系數(shù)是10.2×10-6，在常溫環(huán)境制造出的Pt100元件本身就存在溫度系數(shù)不一致，所以薄膜鉑電阻在常溫小溫度范圍使用可以，大范圍溫度使用就產(chǎn)生由于膨脹系數(shù)不一致造成鉑膜與陶瓷基片結(jié)合面間斷性脫落，使原件的原始參數(shù)改變。這就是薄膜鉑電阻不穩(wěn)定不可靠的直接原因。人們會想能不能找到與鉑膨脹系數(shù)相同的陶瓷，反正我現(xiàn)在是沒找著，若找到我也干一部分薄膜鉑電阻了。
        第二個缺點是自熱大。
        但它的突出優(yōu)點是，體積小，抗震，成本低便宜，在民用家電-20—70℃使用有優(yōu)勢，（民用產(chǎn)品不追究零點幾度的不穩(wěn)定性）。

三、內(nèi)繞式陶瓷鉑電阻

        這是目前用得比較多的一種叫內(nèi)繞式陶瓷鉑電阻。
        在結(jié)構(gòu)上它存在兩個嚴(yán)重的缺點：1、引線與鉑絲焊點處封裝的陶瓷釉承受的是拉應(yīng)力，特別是測量溫度較高時，陶瓷釉與電阻體的結(jié)和強度下降zui容易在這拉開；2、彈簧狀的鉑絲在電阻體的兩孔中如圖狀態(tài)或孔內(nèi)灌裝陶瓷顆粒，均為鉑絲自由狀態(tài)。因此該型鉑電阻不抗震，斷路和短路的故障多。
        但它的優(yōu)點是：自熱不大，無振動、溫度不高場合穩(wěn)定性好。