CCIT真空衰減法密封檢漏儀
CCIT，英文全稱為Container Closure Integrity Test，又稱容器密封性，顧名思義就是檢查容器（內(nèi)包材）的密封性（完整性，泄漏情況）。
容器密封性測試方法
容器密封性測試分為物理的（Physical CCIT）和微生物測試（Microbial CCIT）。測試方法包括常見的亞甲基藍(lán)染色，色水法，真空衰減，激光，微生物侵入法等等。方法選擇時，需考慮各種因素，如包裝本身、包裝內(nèi)容物、密封組件的匹配、方法本身的特點(diǎn)、檢出限等。
濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器研發(fā)生產(chǎn)的LEAK-S采用真空衰減法原理，基于雙傳感技術(shù)，采用非破壞性檢測方法對成品包裝進(jìn)行泄漏檢測，測試后樣品無損傷不影響正常使用，測試成本低，產(chǎn)品包裝完成完整性試驗(yàn)之后仍然可以正常使用，滿足ASTM F2338《使用真空衰變法無損檢驗(yàn)包裝緊密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》、USP 1207等。
測試原理
將主機(jī)連接到一個特別設(shè)計用來容納需要被測物的測試腔內(nèi)。儀器對測試腔進(jìn)行抽真空，包裝物內(nèi)外形成壓力差，在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過漏孔擴(kuò)散至測試腔內(nèi)，雙傳感器技術(shù)檢測時間和壓力的變化關(guān)系，與標(biāo)準(zhǔn)值（建立的數(shù)學(xué)模型）進(jìn)行比較，從而判斷試樣是否泄漏。
技術(shù)參數(shù)
真空度：0--100kPa
檢測孔徑精度：＜5μm
設(shè)備操作：自帶HMI
內(nèi)部壓力：常壓
測試系統(tǒng)：真空傳感器技術(shù)
真空來源：外接真空泵
測試腔：根據(jù)樣品定做
檢測原理：真空衰減法/無損檢測
主機(jī)尺寸：500mmX360mmX320mm（長寬高）
重 量：18Kg
環(huán)境溫度：20℃-30℃
相對濕度：≤80%,無凝露
工作電源：220V
技術(shù)特征
1、針對不同檢測樣品可選配對應(yīng)的測試腔，用戶可輕松更換，在滿足更多種類樣品的情況下，盡量減少用戶費(fèi)用開支，使儀器具備要有較好的檢測適應(yīng)性；
2、適用于檢測微小漏孔，也可以鑒別大漏孔樣品，并給出合格與不合格的判斷；
3、采用非破壞性檢測方法對成品包裝進(jìn)行泄漏檢測，測試后樣品無損傷不影響正常使用，測試成本低；
4、測試結(jié)果非主觀性判斷，無需人工參與，保證數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性與客觀性；
5、儀器配備R232串口，支持?jǐn)?shù)據(jù)局域網(wǎng)傳輸，并具備ISP在線升級功能，滿足客戶個性化要求。
CCIT真空衰減法密封檢漏儀
