A. 低頻法測試原理

IEC60044-6 標(biāo)準(zhǔn)（對應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn) GB16847-1977）聲稱，CT的測試可以在比額定頻率低的情況下進(jìn)行，避免繞組和二次端子承受不能容許的電壓。

CT伏安特性測量的原理電路如下圖：CT一次側(cè)開路，從二次側(cè)施加電壓，測量所加電壓 V 與輸入電流 I 的關(guān)系曲線。此曲線近似 CT 的勵(lì)磁電勢 E 與勵(lì)磁電流 I 的關(guān)系曲線。

設(shè) CT勵(lì)磁繞組在某一勵(lì)磁電流 I 時(shí)的激磁電感為 L，激磁阻抗為 Z，則：

        V = I·Z

電感 L與阻抗 Z之間具有下述關(guān)系：

         Z = ω·L = 2πfL

則：V= I·2πfL

由公式中可見在某一激磁電感L時(shí)所加電壓V與頻率 f 成正比關(guān)系。

假設(shè)當(dāng) f = 50Hz時(shí)，為達(dá)到勵(lì)磁電流 Ix，所需施加的電壓 Vx為 2000V

Vx = Ix·2 π f L = 2000V，

若施加不同頻率：

f = 50Hz，Vx ＝ 2000V

f = 5Hz， Vx ≌ 200V

f = 0.5Hz，Vx ≌ 20V

由此可見需要使 CT進(jìn)入相同飽和程度，施加較低頻率信號所需電壓可以大幅度降低這就是變頻法的基本原理。

在此必須嚴(yán)格注意，所需電壓并非與頻率呈線性比例關(guān)系，并非隨著頻率等比例降低，需要嚴(yán)格按照互感器的精確數(shù)學(xué)模型進(jìn)行完整的理論計(jì)算。