北京北廣精儀儀器設備有限公司
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硫化橡膠電氣強度試驗儀-制作標準 GB1408 高壓驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質材料的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗。適用于對固體絕緣材料（如：絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復合制品、陶瓷和玻璃等）在工頻電壓下擊穿電壓，擊穿強度和耐電壓的測試
硫化橡膠電氣強度試驗儀-制作標準 GB1408
構成
主機大致分為 上位機 （指軟件）
下位機包括硬件 ：線路板）
試驗變壓器
升壓系統
高壓驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質材料的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗。適用于對固體絕緣材料(如：絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復合制品、陶瓷和玻璃等)在工頻電壓下擊穿電壓，擊穿強度和耐電壓的測試。
固體執行標準 液體執行標
GB1408-2016 GB/T 507-2002
GB/T1695-2005 DL429.9-91
GB/T3333 絕緣油擊穿電壓測定
HG/T 3330 絕緣油介電強度測定法
GB12656
ASTM D149
硫化橡膠電氣強度試驗儀滿足：
絕緣材料電氣強度試驗方法
硫化橡膠工頻電壓擊穿強度和耐電壓強度試驗
電纜紙工頻電壓擊穿試驗方法
絕緣漆漆膜擊穿強度測定法
電容器紙工頻電壓擊穿試驗方法
固體電絕緣材料在工業電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強度的試驗方法.
主要適用于固體絕緣材料，同時可測得 液體、粉體和不規則物體的擊穿強度。自動整形 測試精度與固體一樣精確。
同時測得工頻交流電壓與直流電壓的擊穿強度和耐壓強度的測試 可設定梯度耐壓的試驗 使梯度時間自由調整。本儀器由pc控制，通過我公司自主研發的全新智能數字精密嵌入式西門子單元cpu系統與上位機軟件控制兩部分來完成，通過pc USB 串口獲得數據傳送數據可高達 3M/S是RS232串口*的 讓上位機與下位機通訊無延遲使升壓速率真正做到勻速、準確，并能夠準確測出漏電電流的數據，電流實時采集?？蓪崟r繪制試驗曲線，顯示試驗數據，判斷準確，并可保存，分析，打印，修改試驗數據。并且提取試驗數據分色對比。人性化明顯
試驗軟件簡介：
此設備軟件外觀由專業的美工設計：
人員管理：可添加多人同時使用此軟件 不同人員設定不同密碼 交叉使用互不干擾 （如一人使用可刪除設定密碼 直接進入軟件）
參數管理：高壓保護可選、 耐壓時間可選、 梯度步進可選 、漏電流和過壓可選、靈敏的漏電壓可選、漏電流可選 、升壓速度可自由設定（0-10kv 無極自由）試驗結果可選 異地操作選定 、人機分離選定等等
結果調取：試驗結果保存調取 、人員選定調去 、試驗結果可根據客戶要求操作整理 、支持5次以上彩線對比、自動整取添加試驗數據。
試驗介質：空氣，試驗油
安裝靈敏度較高的過電流保護裝置保證試樣擊穿時在0.05S內切斷電源。儀器配備的故障報警系統 避免用戶操作故障儀器發生危險。（上位機報警和下位機報警）
支持短時間內短路試驗要求。電壓試驗精度： ≤ 1％。試驗電壓連續可調： 0--100 KV。
電流可采集到m 并且實現 實時采集。出具*計量單位校準證書或出具客戶計量單位的證書電源：220v±10%的單相交流電壓和50Hz±1%的頻率電流電壓穩定度：外界電壓波動10% （可選配我司配到電壓保護器 額定波動電壓30%）升壓裝置：采用的無觸點原件勻速升壓淘汰前款機械調壓耐壓時間：0-6H保持相對電壓 （軟件設定）擊穿試樣：試樣擊穿點 大小可調一般為1-5mm左右帶有方便拆裝的油浴槽（可根據客戶需要，也可不要油浴槽）機箱材質：優質SUS304 不銹鋼支持人機分離異地操作
技術要求：
輸入電壓： 交流 220 V
輸出電壓： 交流 0--100 KV ;直流 0—100 KV
電器容量： 10KVA
高壓分級： 0-10KV，0--50KV，0-100KV
升壓速率：0.1-10kv備注：滿足標準要求并可以根據用戶需求設定不同的升壓速率）
試驗方式：直流試驗：1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗 交流試驗：1、勻速升壓 2、梯度升壓 3、耐壓試驗
高壓變壓器
cpu 控制模塊
西門子處理單元
遠程藍牙模塊
漏電保護系統
系統故障報警
電 機
升壓調壓器
電壓傳感器
電流傳感器
獨立控制模塊
試驗方式
試驗方式為：耐壓試驗（選擇一個試驗電壓用一定的速度升到電壓保持一定的時間沒有發生擊穿然后返回零位。）梯度升壓試驗（選擇*段加壓電壓 保持這個電壓一定的時間沒有被擊穿在以梯度電壓繼續往上升壓然后保持耐壓時間 如果不被擊穿重復之前的升壓方式直到發生擊穿為止。）擊穿試驗：（以一定的速度升壓直到式樣被擊穿為止）
高頻介質損耗測試系統由BH916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。
1、《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件，它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品，精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
2、基于串聯諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統的二次儀表，其數碼化主調電容器的創新設計代表了行業的成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)，把被測材料作為平板電容的介質，與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。 GDAT高頻Q表的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關注量程和換算，摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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3、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)，實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數據的精確度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算*的。 4、一個高品質因數（Q)的電感器是測量系統*的輔助工具，關乎測試的靈敏度和精度，在系統中它與平板電容（BH916）構成了基于串聯諧振的測試回路。本系統推薦的電感器為LKI-1電感組，共由9個高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。
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附表一,介質損耗測試系統主要性能參數一覽表 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
BH916測試裝置 | GDAT高頻Q表 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
平板電容極片 | Φ50mm/Φ38mm可選 | 頻率范圍 | 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
間距可調范圍 | ≥15mm | 頻率指示誤差 | 3×10-5±1個字 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
夾具插頭間距 | 25mm±0.01mm | 主電容調節范圍 | 30-500/18-220pF | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測微桿分辨率 | 0.001mm | 主調電容誤差 | <1%或1pF | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
夾具損耗角正切值 | ≦4×10-4 （1MHz) | Q測試范圍 | 2～1023 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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附表二,LKI-1電感組典型測試數據 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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技術指標和功能以隨機說明書為準 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
平板電容極片：Φ50mm/Φ38mm可選
間距可調范圍：≥15mm
頻率范圍 ： 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
頻率指示誤差：3×10-5±1個字
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
主電容調節范圍：30-500/18-220pF
測微桿分辨率：0.001mm
主調電容誤差：<1%或1pF
夾具損耗角正切值：≦4×10-4 （1MHz)
Q測試范圍：2～1023
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