北京北廣精儀儀器設備有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產品型號GDAT-A
品 牌
廠商性質生產商
所 在 地北京市
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更新時間：2025-04-17 07:30:27瀏覽次數(shù)：76次
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ASTMD150介電常數(shù)測定儀簡介:介質損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據。
ASTMD150介電常數(shù)測定儀技術參數(shù)：
1. 信號源： 10KHZ-70MHz
2. 采樣精度：11BIT
3. Q測量范圍：1-1000自動/手動量程
4. Q分辨率：0.1
5. Q測量工作誤差<5%
6. 電感測量范圍：分辨率0.1nH1nH-8.4H , 分辨率0.1nH
7. 電感測量誤差<3%
8. 調諧電容：主電容30-540pF
9. 電容直接測量范圍：1pF～2.5uF
10. 調諧電容誤差：±1 pF或<1% 0.1pF
11. 諧振點搜索：自動掃描
12. Q合格預置范圍：5-1000聲光提示
13 LCD顯示參數(shù)：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
14. 介質損耗系數(shù)精度：萬分之一
15. 介電常數(shù)精度：千分之一
16. 材料測試厚度：0.1mm-10mm
技術：
1.儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。
2.大電容值直接測量顯示。
3.數(shù)顯微測量裝置，直接讀值。
參考標準：
1.GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；
2.GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；
3.ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法。
4.GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數(shù)的測試方法
ASTMD150介電常數(shù)測定儀測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）。
技術特性：
Q值測量范圍: 2～1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤5％ ± 滿度值的2％（200kHz～10MHz）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差:≤7％ ± 滿度值的2％（200kHz～10MHz）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍: 4.5nH～140mH
電容直接測量范圍: 1～200pF
主電容調節(jié)范圍: 18～220pF
主電容調節(jié)準確度: 100pF以下 ±1pF;100pF以上 ±1％
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz～160MHz
頻率分段（虛擬）: 100～999.999kHz, 1～9.99999MHz,10～99.9999MHz,100～160MHz
頻率指示誤差: 3×10 -5±1個字
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