上海沃雋電子科技有限公司
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低能級反光電子能譜儀
以前沒有一種合適的方法能夠精確地測量LUMO的能級。ALS公司研發出一種能夠精確測量LUMO能級的系統。LE-1系統是一個理想的有機電子研究解決方案。
LE-1低能級反光電子能譜儀
以前沒有一種合適的方法能夠精確地測量LUMO的能級。ALS公司研發出一種能夠精確測量LUMO能級的系統。LE-1系統是一個理想的有機電子研究解決方案。
LE-1的特點和配置
1. 降低電子輻照能量，就能夠避免對有機樣品的損傷
2. 能夠達到和用光電子能譜儀測量HOMO能級一樣的測量精度
3. 相當于X射線光電子能譜儀系統（XPS或UPS），LE-1能在相同條件下測量樣品
4. 即使在超真空條件下，樣品、真空和測量也能輕易地自動轉換
5. 只要使用LEIPS標準軟件，電子親和性等就能很容易計算和得到
簡易的LEIPS標準軟件使用說明
1. 輸入測量參數后，開始測量。樣品的電流譜和LEIPS光譜就能同時被測出來
2. 只要通過簡單的操作，就能在測量結果上計算出真空度和電子親和性
3. 在計算屏上，只要通過光標就能直接讀出光譜任何一處的能量值
4. 測量數據要被用來分析的話，就以csv文檔格式保存
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