上海沃雋電子科技有限公司
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突破了X射線成像技術的限制，更好更精準可以對高通量中子源的缺陷檢測及關鍵部分成像
航空航天、能源和*門 但是由于缺少便利的輔助設備及高通量中子源
雖然具有高原子元素的中子反應 比較弱，但是可以很好低密度反應 和含氫材料。
中子的這種特性將可能影響 金屬物體和內部的復合材料的成像質量
所以如果用傳統X射線 技術是*無法成像的
中子射線和層析攝像是被認為缺陷檢測和成像 關鍵組成部分的非常有效率的技術
中子不受X射線相同的限制，但是X射線不能穿透高密度的物質中子
這種中子能非常容易地提供內部及低密度材料的詳細信息
非常重要的是其需要非破壞性組件的數量評估，
包括發動機渦輪葉片、彈藥、航天器、風力發電機及復合材料葉片
針對于所有這些應用，中子照射成像提供了X射線無法提供的信息，
另外中子照射成像是一種能夠實現互補的無損檢測技術，特別是些
難度比較高的信息獲取。
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