Elcometer 224表面粗糙度儀-整體式E224C-BI

Elcometer 224 提供了新的表面粗糙度測量技術，測量平面或曲面上 的粗糙度。
快速可靠的峰谷表面粗糙度測量
**測量平面或曲面上的表面粗糙度可達500μm (20mils)
測量平均峰谷和平均*大峰谷高度
便攜，堅固的手持設計非常適合現場使用
 
界面友好
大按鍵，即使戴上手套也可方便操作
多語言菜單設置
高對比度彩色LCD，并帶有自動旋轉功能
高，低限值指示標志
工廠已校準，拆包即用

準確
符合多項國家和國際標準
熱穩測量
即時計算，并顯示統計
現場數據讀數圖表格式，進行即時分析
測量**度±5%

可靠性
重復性和再現性測量
年主機保修期
提供全套可追溯檢驗證書
批組和單個讀數帶有日期和時間戳

堅硬的
密封，耐用，抗沖擊性強
防塵防水，防護等級相當于IP64
適合在惡劣環境下使用
顯示器抗劃性及防溶劑性強
儀器及探頭結構持久耐用

高效
快速讀數，每分鐘可讀取50多個讀數
整體式和分體式探頭，滿足您的應用需求
字母數字組合命名數據組
與ElcoMaster®和ElcoMaster®移動應用程序兼容
帶敲擊喚醒功能的省電模式
每次測量選擇5或10個讀數

功能強大
碳化鎢筆尖, 堅固耐用，用戶備用—*多測得 20,000個讀數
USB和Bluetooth®數據輸出到iPhone1或 Android™設備
存儲多達2,500批 次，150,000個讀數
測量粗糙度值*高達500μm (20mils)
回放圖表格式的數據組或*后20個讀數
整體式和分體式探頭選項 , 用于平面和凸1面

標準:
ASTM D 4417-B, SANS 5772, SSPC PA 17, US Navy NSI 009-32, US Navy PPI 63101-000

Elcometer 224表面粗糙度儀-整體式E224C-BI