45MG超聲測厚儀:

操作簡便、堅(jiān)固耐用、性能可靠

 
45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測量功能和軟件選項(xiàng)的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。

標(biāo)準(zhǔn)功能

 45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學(xué)、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過Z基本的培訓(xùn)，就可完成的測厚應(yīng)用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進(jìn)行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
購買。
 

  l  與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測量
  l  Z小值/Z大值模式
  l  兩個報(bào)警模式
  l  差值模式
  l  時基B掃描
  l  縮減率
  l  增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低）
  l  密碼式儀器鎖定
 
帶有可選橡膠保護(hù)套和支架的45MG儀器
 抵御惡劣環(huán)境的能力
      l  堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
   l  爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
   l  防撞擊測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
   l  防振動測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
   l  寬泛的操作溫度范圍
   l  可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套
 簡便操作的設(shè)計(jì)理念
      l  可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
   l  可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
   l  使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
   l  USB通訊端口
   l  可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
   l  默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
   l  密碼保護(hù)方式的儀器鎖定
   l  彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有的清晰度
可選功能
   只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項(xiàng)，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途泛的測厚儀行列。
       回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項(xiàng)可對很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常精確的厚度測量。這個選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項(xiàng)可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時A掃描： 用戶使用這個可選實(shí)時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中Z大限度地增強(qiáng)測量性能。這個極為有益的選項(xiàng)包含手動增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
 
室內(nèi)顯示設(shè)置，可選A掃描模式
 
室外顯示設(shè)置，可選A掃描模式
 使用雙晶探頭對腐蝕工件進(jìn)行測量
      45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中使用的是雙晶探頭。
        l  用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
    l  當(dāng)校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
    l  回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)可測量帶有漆層和涂層的表面
    l  高溫測量：溫度可高達(dá)500 °C
B掃描成像（基于時間）
      45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時，這個標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)Z小值功能用于顯示掃查區(qū)域的Z小厚度值。可選45MG數(shù)據(jù)記錄器Z多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。


室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式
 回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)
 回波到回波
 測厚儀使用多個底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：
  l   自動回波到回波
  l   手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)），可進(jìn)行以下操作：
    Ø  增益調(diào)整
    Ø  擴(kuò)展空白
    Ø   回波空白
 
顯示A掃描的自動回波到回波模式
 
調(diào)整個回波空白的手動回波到回波模式
 高溫表面
 
45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達(dá)500 oC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能，通過補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測量的精確性。
          
     
 穿透涂層技術(shù)
 
使用單個底面回波測量金屬的實(shí)際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
 
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項(xiàng)未被激活）

顯示可選波形的穿透涂層模式
 使用單晶探頭對工件進(jìn)行測量
對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測量
 使用單晶探頭
 用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項(xiàng)。
      l   在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米（0.0001英寸）的測量值。
   l   高穿透軟件選項(xiàng)用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
   l   測量厚度、聲速或渡越時間。
   l   自動調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置用于當(dāng)前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作。
 單晶軟件選項(xiàng)
 用戶使用單晶軟件選項(xiàng)，可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的極為精確的厚度測量。這個選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
      l   大多數(shù)薄材料和厚材料
   l   壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
   l   壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件
   l   汽缸孔、渦輪葉片
   l   玻璃燈泡、瓶子
   l   薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
   l   曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
 
高穿透軟件選項(xiàng)可以對很多鑄造金屬部件及聲波衰減性*的材料進(jìn)行測量。
 應(yīng)用設(shè)置調(diào)用
 應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡化了厚度測量操作。用戶在選擇了任何一個存儲探頭后，45MG測厚儀即會調(diào)出所有與這個內(nèi)置探頭相關(guān)的參數(shù)。
 存儲的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置
 45MG儀器帶有21個標(biāo)準(zhǔn)單晶探頭設(shè)置，可用于的測量操作。這些默認(rèn)探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測量應(yīng)用。
 存儲的自定義設(shè)置
 45MG還可存儲Z多35個自定義單晶探頭的設(shè)置，其中還包括校準(zhǔn)信息。用戶可以連接適當(dāng)?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進(jìn)行厚度測量，甚至還可完成Z復(fù)雜的測厚應(yīng)用。
 材料聲速測量
 45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)控復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。
 縮減率測量
 差值模式和縮減率模式是45MG的標(biāo)準(zhǔn)功能。差值模式顯示實(shí)際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異。縮減率計(jì)算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經(jīng)過彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進(jìn)行的縮減率測量是一個典型的應(yīng)用。
 
使用20 MHz延遲塊探頭測量薄塑料材料。
 
使用V260-SM Sonopen探頭對薄玻璃進(jìn)行測量。
 
測量金屬板因彎曲變形而變薄的情況。
 
可測量包括塑料、金屬、橡膠、玻璃、陶瓷及復(fù)合材料在內(nèi)的很多材料的厚度。
 單晶高穿透軟件選項(xiàng)
 
  
   用戶使用這個選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。 這個選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
        l   大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料
    l   厚鑄造金屬部件
    l   厚橡膠輪胎、履帶
    l   玻璃纖維船體、儲存罐
    l   復(fù)合材料板
    l   對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

產(chǎn)品規(guī)格