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恒溫恒濕試驗箱積架式獨立的操作系統,互不關聯的控制方式。占地空間小，試驗性能穩定。水電分離設計方式，安全性能高。自帶進水過濾系統，實用性高。

恒溫恒濕試驗箱復疊式適用于實驗室空間有限，或待測物體積小（手機,IC,電子零組件..等）可同時選放兩臺，溫濕度范圍大，大可達-70℃~150℃。

恒溫恒濕試驗箱雙拼式是金屬、汽車、家電、科研等領域*的檢測設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫溫度環境變化后的參數及性能。適用于工廠、學...

恒溫恒濕試驗箱雙層式是金屬、汽車、家電、科研等領域*的檢測設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫溫度環境變化后的參數及性能。適用于工廠、學...

高低溫濕熱快速溫變試驗箱主要用于考察各種工業制品熱機械性能引起的失效，當構成產品各部件的材料熱匹配較差，或部件內應力較大時，溫度循環試驗可引發產品由機械結構缺陷...

快速溫變試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效...

快速變溫試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效...

高低溫快速溫變試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗...

溫濕度快速溫變試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗...

快速溫變試驗箱ESS溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗...

高低溫速變試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失...

高低溫快速循環試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗...

ESS快速溫變試驗箱主要用于考察各種工業制品熱機械性能引起的失效，當構成產品各部件的材料熱匹配較差，或部件內應力較大時，溫度循環試驗可引發產品由機械結構缺陷劣化...

ESS高低溫濕熱快速溫變試驗箱主要用于考察各種工業制品熱機械性能引起的失效，當構成產品各部件的材料熱匹配較差，或部件內應力較大時，溫度循環試驗可引發產品由機械結...

ESS高低溫速變試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試...

高低溫快速溫度變試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試...

高低溫快速變化試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現以較快的速度真實再現所測樣件應用環境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗...

全光譜陽光模擬試驗箱適合全光譜光照試驗，滿足GB、GJB等標準光照試驗。設備模擬由太陽光引起的破壞，通過將被測材料暴露于受控高溫下光照中，來對材料進行耐候測試。

金屬鹵素燈老化試驗箱適用于檢測成套零部件或整車在陽光照射下的老化性能。用戶可能此測試對零部件或整車在照射后性能的更改進行評估，包括形狀、顏色、光澤度、手感、強度...

陽光模擬試驗箱適用于檢測成套零部件或整車在陽光照射下的老化性能。用戶可能此測試對零部件或整車在照射后性能的更改進行評估，包括形狀、顏色、光澤度、手感、強度及各種...