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防爆露點(diǎn)儀探頭

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更新時(shí)間：2023-07-02 07:59:38瀏覽次數(shù)：173次

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上海升賢儀器有限公司

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防爆露點(diǎn)儀探頭M系列該探頭具有的氧化層薄膜厚度使得其顯示真正的優(yōu)良濕度，而不是相對(duì)濕度響應(yīng)，同時(shí)使得溫度與滯后的影響降至*低。使用M系列氧化鋁水份探頭再氣體與液體中直接測(cè)量水的蒸汽壓非常便利與有效

詳細(xì)介紹

防爆露點(diǎn)儀探頭M系列

**可靠的濕度測(cè)量在工業(yè)應(yīng)用中日益重要，多功能變送器GE防爆露點(diǎn)儀M系列為此提供了理想的解決方案。

根據(jù)濕度測(cè)量技術(shù)在工業(yè)應(yīng)用中的多年經(jīng)驗(yàn)，GE公司基于高質(zhì)量的電容濕敏元件HC系列制造了M氧化鋁探頭系列變送器。儀器的硬件構(gòu)造結(jié)合各種標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)械和電子模塊，使其各種應(yīng)用達(dá)到*優(yōu)化氧化鋁探頭。

防爆露點(diǎn)儀探頭M系列

量程：20—110℃

性能與優(yōu) 點(diǎn)
· 本安 EEx ia IIC T4
· 出眾的靈敏性，響應(yīng)速度和標(biāo)定穩(wěn)定性
· 可選溫度傳感器
· NIST可溯源標(biāo)定
· 適用于與采用系統(tǒng)配合使用的應(yīng)用
· 真正的優(yōu)良濕度探頭
· 超寬測(cè)量范圍
該探頭具有的氧化層薄膜厚度使得其顯示真正的優(yōu)良濕度，而不是相對(duì)濕度響應(yīng)，同時(shí)使得溫度與滯后的影響降至*低。使用M系列氧化鋁水份探頭再氣體與液體中直接測(cè)量水的蒸汽壓非常便利與有效。該探頭經(jīng)過一系列特殊工藝陽(yáng)極電鍍使鋁基表面產(chǎn)生多孔氧化層并形成極薄金鍍層，鋁基與金鍍層形成兩個(gè)電極，整個(gè)結(jié)構(gòu)成為一個(gè)氧化鋁電容。水汽平衡分布于氧化鋁孔隙壁上，每個(gè)孔隙壁的電阻值提供了與水蒸汽壓成函數(shù)關(guān)系的阻抗，可測(cè)量氣體和液體中的水份含量。
M系列氧化鋁水份探頭可測(cè)量氣體和非水液體中從微量到常量的水份含量。它可與GE Panametrics的所有水份分析儀配合使用。使用方便、寬測(cè)量范圍和嚴(yán)格的校準(zhǔn)穩(wěn)定性使這系統(tǒng)成為世界范圍內(nèi)工業(yè)水份測(cè)量的優(yōu)選。它有出眾的靈敏性，響應(yīng)速度和標(biāo)定穩(wěn)定性，以及很寬