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進(jìn)口導(dǎo)波雷達(dá)液位計(jì)，導(dǎo)波雷達(dá)液位計(jì)廠家

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更新時(shí)間：2016-12-01 21:55:41瀏覽次數(shù)：289次

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淮安華江自動(dòng)化儀表有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)具有低維護(hù)，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有*的*性。

詳細(xì)介紹

1、HJRD36導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)產(chǎn)品概述：
HJRD36導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)是采用微波技術(shù)來(lái)檢測(cè)料位的高科技產(chǎn)品，該料位儀利用微波具有穿透性好，對(duì)惡劣環(huán)境及被測(cè)物料適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn)，采用世界上*的大規(guī)模集成電路，利用雷達(dá)原理、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和快速傅里葉變換（FFT）技術(shù)。采用連續(xù)式乍動(dòng)測(cè)量，能測(cè)量液體、固體（塊狀、粉狀）料位，具有測(cè)距遠(yuǎn)、精度高等特點(diǎn)。
HJRD36導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)具有低維護(hù)，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有*的*性。微波信號(hào)的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿(mǎn)足工藝過(guò)程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求。該產(chǎn)品適用于高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發(fā)性氣體等惡劣環(huán)境?？蓪?duì)不同料位進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。該儀器主要技術(shù)指標(biāo)達(dá)到或優(yōu)于國(guó)內(nèi)外同類(lèi)產(chǎn)品,且安裝調(diào)試簡(jiǎn)便，可以單臺(tái)使用，也可組網(wǎng)使用，可廣泛應(yīng)用于冶金、建材、能源、石化、水利、糧食等行業(yè)。

2、HJRD36導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)技術(shù)參數(shù):
應(yīng) 用：介電常數(shù)低或表面波動(dòng)液體
測(cè)量范圍：6米
過(guò)程連接：螺紋、法蘭
過(guò)程溫度：-40~250℃
過(guò)程壓力：-0.1~2MPa
精度: ±3mm
頻率范圍: 100MHZ~1.8GHZ
防爆等級(jí): Exib IIC T6 Gb
防護(hù)等級(jí)：IP67
信號(hào)輸出：4—20mA/HART（兩線(xiàn)）

3、HJRD36導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)使用說(shuō)明：
    測(cè)量原理
    HJRD36導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)是基于時(shí)間行程原理的測(cè)量?jī)x表，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，運(yùn)行時(shí)間可以通過(guò)電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當(dāng)脈沖遇到物料表面時(shí)反射回來(lái)被儀表內(nèi)的接收器接收，并將距離信號(hào)轉(zhuǎn)化為物位信號(hào)。
    輸入
    反射的脈沖信號(hào)沿纜繩傳導(dǎo)至儀表電子線(xiàn)路部分，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別
出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由智能軟件完成，距離物料表
面的距離 D 與脈沖的時(shí)間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速
    因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為： L=E-D
    輸出
    通過(guò)輸入空罐高度 E（= 零點(diǎn)），滿(mǎn)罐高度 F（= 滿(mǎn)量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來(lái)設(shè)定，應(yīng)
用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測(cè)量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于 4－20mA輸出。
   測(cè)量范圍
    F---- 測(cè)量范圍
    E---- 空罐距離
    B---- 頂部盲區(qū)
    K---- 探頭到罐壁的zui小距離
    頂部盲區(qū)是指物料zui高料面與測(cè)量參考點(diǎn)之間的zui小距離。
    底部盲區(qū)是指纜繩zui底部附近無(wú)法精確測(cè)量的一段距離。
    頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測(cè)量距離。