冷熱沖擊試驗箱原器件價格圖片

    冷熱沖擊試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。

該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。

冷熱沖擊試驗箱技術(shù)指標(biāo):

1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+150℃

2 、濕度范圍：30%～98%RH

3 、溫度波動度：±0.5℃

4 、溫度偏差：≤2℃

5 、濕度偏差：+2-3 %RH

6 、升降溫速率：0.7～1℃/min

冷熱沖擊試驗箱型號與參數(shù)(www.uvlhsyx.com)

型號          ㎜ 工作尺寸           外型尺寸             

TS－800     800×1000×1000      1450×1480×2300

TS－100     450×450×500        1150×900×1650.

TS－225     500×600×750        1200×1100×1900           

TS－500     700×800×900        1350×1280×2200

TS－1000    1000×1000×1000      1650×1480×2300

冷熱沖擊試驗箱標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)而制造的:

GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備

GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法

GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則

以上是關(guān)于艾思荔冷熱沖擊試驗箱的相關(guān)參數(shù)，如需了解更多關(guān)于冷熱沖擊試驗箱保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息，請！

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