高低溫沖擊濕熱試驗(yàn)箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備;適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn);特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

　　高低溫沖擊濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

　　設(shè)備型號(hào)：HL-80

　　溫度范圍：-70℃～+100℃

　　溫度偏差：≤±2.0℃

　　溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

　　升溫時(shí)間：2~3℃/min(設(shè)備空載時(shí))

　　降溫時(shí)間：0.7~1℃/min(設(shè)備空載時(shí))

　　工作室尺寸(深×寬×高)：400*400*500mm

　　外型尺寸(深×寬×高)：950*950*1360mm

　　高低溫沖擊濕熱試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):

　　低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB10589-2006

　　高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB10592-2006

　　高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB11158-2006

　　低溫試驗(yàn)方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)

　　高溫試驗(yàn)方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)

　　高低溫交變?cè)囼?yàn)(僅濕熱型):GB/T2423.4-1993

　　高溫試驗(yàn)方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)

　　低溫試驗(yàn)方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備:GB/T5170.2-1996

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