手機(jī)需要用環(huán)境可靠性試驗(yàn)檢測的目的

　　在手機(jī)的研制階段，為了保證手機(jī)具有一定的可靠性水平或提高手機(jī)的可靠性，要通過可靠性增長試驗(yàn)手機(jī)的缺陷，進(jìn)而進(jìn)行分析，并采取有效糾正措施，使手機(jī)的可靠性得到增長。產(chǎn)品可靠性是設(shè)計(jì)和制造出來的，但必須通過試驗(yàn)予以驗(yàn)證。在設(shè)計(jì)定型前，對手機(jī)進(jìn)行鑒定試驗(yàn)，驗(yàn)證手機(jī)是否達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)。對批量生產(chǎn)的手機(jī)在交付使用時，要通過驗(yàn)收試驗(yàn)來對手機(jī)的可靠性進(jìn)行驗(yàn)收。在手機(jī)的使用階段，為了了解手機(jī)使用的可靠性水平，要進(jìn)行手機(jī)試用試驗(yàn)等。可見，可靠性試驗(yàn)貫穿于手機(jī)的全壽命之中，可靠性試驗(yàn)是評價手機(jī)可靠性的一個重要手段。

手機(jī)需要做哪些相關(guān)檢測試驗(yàn)?zāi)兀?/span>

      隨著社會的不斷進(jìn)步和通信技術(shù)的飛速發(fā)展，人們對通信的需求日益迫切，對通信的要求也越來越高。移動通信以它*的方便、時效性的優(yōu)點(diǎn)，在信息社會中得到越來越廣泛的應(yīng)用，移動通信技術(shù)已成為目前發(fā)展迅速、應(yīng)用廣泛、引人矚目的通信技術(shù)。

　　影響產(chǎn)品可靠性的極其重要的因素是環(huán)境。環(huán)境因素多種多樣：溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風(fēng)、雷、電、鹽霧、砂塵、振動、沖擊、噪聲、電磁輻射等，都不可避免地對電子產(chǎn)品產(chǎn)生不良影響。有資料顯示，電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應(yīng)引起：其中由溫度引起的占40%,由振動引起的占27%,由濕度引起的占19%,其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障。環(huán)境試驗(yàn)作為可靠性試驗(yàn)的一種類型已經(jīng)發(fā)展成為一種預(yù)測產(chǎn)品使用環(huán)境是如何影響產(chǎn)品的性能和功能的方法。在手機(jī)投入市場之前，環(huán)境試驗(yàn)被用來評估環(huán)境影響手機(jī)的程度，當(dāng)手機(jī)的功能受到了影響，環(huán)境試驗(yàn)被用來查明原因，并采取措施保護(hù)手機(jī)免受環(huán)境影響以保護(hù)手機(jī)的可靠性，環(huán)境試驗(yàn)也被用來分析手機(jī)在實(shí)際使用過程中出現(xiàn)的缺陷以及新產(chǎn)品的改進(jìn)。總之，環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)對于保證手機(jī)的可靠性是非常有效的。

　　手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)的內(nèi)容

　　任何一款手機(jī)新品的，都需要經(jīng)過*檢驗(yàn)單位的嚴(yán)格測試。這些測試內(nèi)容中非常重要的一項(xiàng)就是手機(jī)的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)及部分部件的壽命試驗(yàn)。

　　手機(jī)還需要在隨機(jī)振動條件下進(jìn)行性能測試，在跌落高度為1.0m、每個面向下跌落2次、6面共計(jì)12次跌落在剛性表面上的跌落試驗(yàn)后進(jìn)行功能檢查。手機(jī)是隨身攜帶的產(chǎn)品，而人又經(jīng)常不斷地移動，因此在振動條件下進(jìn)行在線性能測試是為了考察手機(jī)在移動的環(huán)境中能否正常工作，而跌落試驗(yàn)是為了檢驗(yàn)手機(jī)對于用戶的意外使用不當(dāng)是否有一定的保護(hù)性。

　　在目前的標(biāo)準(zhǔn)文件中，對環(huán)境試驗(yàn)所規(guī)定的環(huán)境條件通常比手機(jī)使用所處的環(huán)境要嚴(yán)酷的多，并且更有代表性。由于我國幅員遼闊，地域廣大，南北溫差大，因而每一種手機(jī)都要經(jīng)過-10℃和+55℃各4h的工作溫度試驗(yàn)；還要進(jìn)行溫度+40℃、相對濕度92%Rh、連續(xù)48h左右的恒溫恒濕試驗(yàn)，試驗(yàn)后射頻指標(biāo)和功能均需符合標(biāo)準(zhǔn)要求。這三項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)M手機(jī)在存儲或使用過程中可能遇到的氣候環(huán)境條件，考察手機(jī)在這些環(huán)境條件中外殼材料是否發(fā)生硬化或脆化導(dǎo)致出現(xiàn)裂紋，電子器件（電阻、電容等）性能是否改變，溫度梯度不同和不同材料的溫度變化系數(shù)是否導(dǎo)致電子線路的穩(wěn)定性發(fā)生變化，是否會發(fā)生潮氣與電路板相互作用產(chǎn)生腐蝕層等，用于評價手機(jī)在低溫、高溫、濕熱情況下整體性能是否會下降。

　　除此之外，直板手機(jī)需對按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)，折疊或滑蓋手機(jī)除需做按鍵壽命試驗(yàn)外，還需進(jìn)行翻蓋或滑蓋壽命試驗(yàn)，要求按鍵壽命10萬次，翻蓋或滑蓋5萬次（這相當(dāng)于一部手機(jī)每天接打50次，連續(xù)使用約3年），此后測試手機(jī)的功能是否正常。上述試驗(yàn)需持續(xù)較長時間，只有通過這些試驗(yàn)全部合格的樣品才能獲得通過。

　　綜上所述：手機(jī)的各類檢測設(shè)備主要有，恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱、跌落試驗(yàn)機(jī)、模擬運(yùn)輸振動試驗(yàn)臺、手機(jī)翻蓋試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)滑蓋試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)微跌試驗(yàn)機(jī)等等。

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