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一、HAST加速老化試驗箱技術指標：　　1.型號：hast--240　　2.溫度范圍：RT+10~125℃;控溫精度：≤±0.5℃;(飽和蒸氣溫度...

一、HAST高壓加速壽命測試儀產品用途：　　HAST高壓加速壽命測試儀主要是針對于電工、電子產品,以及其元器件,及其它材料在高溫、低溫的環境下貯存、運輸、使用時...

HAST高壓加速老化試驗箱用途：　　半導體的PCT測試:主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣...

HAST壽命實驗儀用途：廣泛應用于線路板,多層線路板,,IC,LED,,磁鐵之產品密封性能的檢測,測試器制品的耐壓性?！　AST壽命實驗儀技術要求：　　◎型號...

一、HAST快速老化壽命試驗箱用途：　　廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐厭性,氣密性。

一、PCT高壓加速老化機規格與技術參數：　　型號DQY-100　　工作室尺寸D×W×H450×450×500mm　　外型尺寸D×W×H1200×1000×165...

PCT高壓加速老化試驗機用途：　　該設備主要是測試產品在PCT高壓加速老化試驗機的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能,主要用于對電工、電子產品,元器件、零部件...

PCT加速老化試驗機【儀器用途】　　PCT加速老化試驗機適用于國防,航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈...

一、PCT加速老化試驗箱用途：　　廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐厭性,氣密性。

pct加速老化試驗機性能：　　1.設定溫度:+100℃～+135℃(飽和蒸氣溫度)　　2.濕度範圍:蒸氣濕度　　3.濕度控制穩定度：±1%RH　　...

HAST非飽和高壓加速老化箱【簡單介紹】　　HAST非飽和高壓加速老化箱 用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函...

HAST高壓加速老化箱應用范圍：　　HAST高壓加速老化箱主要 是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導...

一、HAST高加速壽命試驗機箱體尺寸及結構內部尺寸和特征　　1.1內部尺寸：300×500mm(φ×D)圓形試驗箱?！　?.2外部尺寸：700×650×780m...

HAST高壓蒸煮試驗箱應用范圍：　　HAST高壓蒸煮試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線...

PCT高壓蒸煮儀應用范圍：　　PCT高壓蒸煮儀的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時...

PCT觸控式高速老化試驗箱應用范圍：　　PCT觸控式高速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠...

一、PCT高壓加速老化試驗箱技術指標：　　1.型號：hast--240　　2.溫度范圍：RT+10~125℃;控溫精度：≤±0.5℃;(飽和蒸氣溫...

一、PCT高壓加速老化試驗機產品用途：　　PCT高壓加速老化試驗機主要是針對于電工、電子產品,以及其元器件,及其它材料在高溫、低溫的環境下貯存、運輸、使用時的適...

PCT高壓加速老化試驗箱用途：　　半導體的PCT測試:主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會...

HAST老化壽命試驗箱技術要求：　　◎型號： PCT-35　　◎內箱尺寸(cm)：Φ300×D450　　◎溫度范圍：110℃——132℃　　◎濕度范圍：...