納米材料的計(jì)量檢測項(xiàng)目明細(xì)

納米材料的計(jì)量測試設(shè)備通常包括:場發(fā)射透射電子顯微鏡、原子力顯微鏡、X射線衍射儀、光電子能譜儀等微區(qū)微貌測試設(shè)備。主要用于進(jìn)行納米測量和納米材料測試研究。納米計(jì)量和納米材料檢測與評價(jià)技術(shù)研究是納米技術(shù)的重要組成部 分,為發(fā)現(xiàn)納米領(lǐng)域的新現(xiàn)象、研究新方法、 創(chuàng)造新產(chǎn)=品提供基礎(chǔ)技;術(shù)支持和服務(wù);納米材料和器件的測量和具體性能測試將是判斷和識(shí)別納米科技產(chǎn)品的重要和基本的技術(shù)指標(biāo)，是規(guī)范市場的重要技術(shù)保證:隨著知識(shí)經(jīng)濟(jì)的發(fā)展和世界貿(mào)易的化,進(jìn)入市場的產(chǎn)品必須滿足相應(yīng)的質(zhì)量檢驗(yàn)要求,實(shí)現(xiàn)國家標(biāo)準(zhǔn)和檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室報(bào)告的相互認(rèn)可，這對消除技術(shù)性貿(mào)易壁壘具有重要的現(xiàn)實(shí)意義，對提高城市綜合競爭力和保持可持續(xù)發(fā)展具有長遠(yuǎn)而深遠(yuǎn)的意義。

納米材料計(jì)量檢測項(xiàng)目:

測量刻蝕掩模、磁介質(zhì)、 CD/DVD、生物材料、光學(xué)材料和其他樣品的表面特性(AFM)。:

測量半導(dǎo)體材料的摻雜濃度和禁帶寬度(SCM)。:

表面形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)觀察、粒度分析、斷面性質(zhì)分析、微區(qū)成分分析(SEM鐵掃描電鏡)。:

形貌觀察、物相分析、晶體結(jié)構(gòu)測定、缺陷分析、成分分析、元素分布分析和化學(xué)狀態(tài)分析(Fe-TEM)。:

固體樣品表面的成分和化學(xué)狀態(tài)分析。能在納米層區(qū)域進(jìn)行定性、半定量和價(jià)態(tài)分析;

定性定量分析，晶粒大小和畸變,晶系測定,晶格常數(shù)精度，高分子材料，納米材料,長周期，粒度分布分析,極點(diǎn)，應(yīng)力，薄膜測試(XRD)。:

固體比表面積、孔體積和孔分布的測量(比表面積和孔院率分析儀)。:

樣品表面比表面積的紅外光譜。:

納米和亞微米尺寸顆粒或乳液的粒度分析可以測量平均粒度和多分散指數(shù)(PcS)。:

亞微米和微米尺寸顆粒或乳液的粒度分析可以測量粒度分布、平均粒度和中值直徑(激光衍射粒度分析儀。:

測量各種純液體中0.4-1200毫米范圍內(nèi)的顆粒數(shù)量和顆粒尺寸分布(顆粒計(jì)數(shù)器)。.