篳路藍(lán)縷孜孜不倦風(fēng)雨兼程累累碩果
OMEC
▲ 歐美克儀器產(chǎn)品總監(jiān)傅曉偉博士
作《全新歐美克納米粒度電位分析儀產(chǎn)品介紹》報告
▲ 歐美克NS-90Z Plus 納米粒度電位分析儀
（點擊圖片查看儀器詳情）
▲ 歐美克儀器應(yīng)用經(jīng)理吳瑾、產(chǎn)品經(jīng)理官澤貴
現(xiàn)場演示NS-90Z Plus典型樣品測試操作
隨后，歐美克應(yīng)用經(jīng)理吳瑾以《光散射法表征粒度及電位的影響因素及其應(yīng)用》為主題分享了對光散射法表征技術(shù)的探討，從技術(shù)原理、方法分類、測試流程、測試誤差原因分析等方面，逐一進行了詳細(xì)介紹，并結(jié)合自己多年粒度表征技術(shù)應(yīng)用開發(fā)經(jīng)驗分享了光散射法在粒度表征和電位分析過程中的影響因素和應(yīng)用案例。
▲ 歐美克儀器應(yīng)用經(jīng)理吳瑾
作《光散射法表征粒度及電位的影響因素及其應(yīng)用》報告
產(chǎn)品經(jīng)理沈興志作《歐美克顆粒表征系列產(chǎn)品的產(chǎn)業(yè)應(yīng)用》報告，通過分享歐美克系列產(chǎn)品在不同工業(yè)顆粒表征領(lǐng)域痛點所做的應(yīng)用工作的案例展示，例如醫(yī)藥、電極材料、水泥在線檢測、非金屬礦行業(yè)以及電池導(dǎo)電漿料評價等領(lǐng)域的質(zhì)控應(yīng)用實踐，并重點介紹了歐美克對于顆粒企業(yè)內(nèi)及產(chǎn)業(yè)鏈中企業(yè)之間的表征分析質(zhì)控體系的建設(shè)、維護和質(zhì)量信息的流轉(zhuǎn)等的豐富經(jīng)驗，助力企業(yè)優(yōu)化工藝、提高產(chǎn)品質(zhì)量、減少質(zhì)量風(fēng)險并減少產(chǎn)業(yè)鏈中不同主體對質(zhì)量信息認(rèn)知的偏差。
30年來，歐美克不斷提升并積極推廣顆粒測試技術(shù)和應(yīng)用并不斷改進創(chuàng)新產(chǎn)品和方法的解決方案應(yīng)對國民經(jīng)濟產(chǎn)業(yè)發(fā)展中的顆粒相關(guān)難點痛點問題，不負(fù)通過精準(zhǔn)的分析技術(shù)力量讓世界變得更清潔、更健康、更高效的偉大使命。
▲ 歐美克產(chǎn)品經(jīng)理沈興志
作《歐美克顆粒表征系列產(chǎn)品的產(chǎn)業(yè)應(yīng)用》報告
▲ 歐美克儀器售后服務(wù)經(jīng)理黃峻峰
作《粒度分析技術(shù)支持體系》報告
砥礪深耕賡續(xù)初心，共期致遠(yuǎn)向新而生
OMEC
▲ 英國思百吉集團CEO Andrew Heath視頻致辭
▲ 馬爾文帕納科全球銷售及商務(wù)運營副總裁Peter John LaPuma致辭
▲ 珠海歐美克儀器有限公司營銷總監(jiān)吳漢平致辭
▲ 中國顆粒學(xué)會秘書長王體壯致辭
▲ 中國顆粒學(xué)會顆粒測試專業(yè)委員會賀信
▲ 沙畫表演
▲ 戰(zhàn)略協(xié)作伙伴獲獎單位合影
▲ 川劇變臉表演
三大科研聯(lián)合實驗室的隆重揭牌，也是繼中國農(nóng)業(yè)大學(xué)-歐美克儀器飛防助劑性質(zhì)藥效研究聯(lián)合實驗之后，歐美克校企產(chǎn)學(xué)研合作的又一重大里程碑。
▲ 聯(lián)合實驗室揭牌儀式
▲ 抽獎活動掠影
▲ 游玩活動精彩剪影
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