數(shù)字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀 型號：DP-2258C
 
概述
      DP-2258C型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。 
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀贈設(shè)測試結(jié)果分類功能，Z大分類10類。 
      探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
      測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的點與選型參考》 
儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等點。 
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率（括號內(nèi)為可向下拓展1個數(shù)量） 
    電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω） 
    電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□  
               （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□） 
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
    直    徑： DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     長()度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等 
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ --- 
Z大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□ 
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB
 
4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（）  
   凈   重：≤1.5～2.0kg