元素分析儀與光譜分析儀檢測(cè)優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比

閱讀：2778發(fā)布時(shí)間：2012-12-23

　　元素分析儀是以熱釋電傳感器為核心，由高頻感應(yīng)燃燒爐、進(jìn)口比色分光系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)組成的智能化紅外分析計(jì)量?jī)x器和比色儀器。分析軟件基于Windows操作平臺(tái)，具有標(biāo)準(zhǔn)Windows中文操作界面和人性化的人機(jī)交互功能。主要用于冶金、機(jī)械、商檢、科研、化工等行業(yè)中的黑色金屬、有色金屬、稀土金屬、無(wú)機(jī)物、礦石、陶瓷等物質(zhì)中的碳、硫元素含量分析。碳硫元素分析儀由電子天平、分析儀主機(jī)、計(jì)算機(jī)、打印機(jī)等部分組成。
　　
　　光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過(guò)樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量，它符合郎珀-比爾定律A=-lgI/Io=-LgT=KCL式中I為透射光強(qiáng)度，I0為發(fā)射光強(qiáng)度，T為透射比，L為光通過(guò)原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。由于近紅外光在常規(guī)中有良好的傳輸特性，且其儀器較簡(jiǎn)單、分析速度快、非破壞性和樣品制備量小、幾乎適合各類(lèi)樣品（液體、粘稠體、涂層、粉末和固體）分析、多組分多通道同時(shí)測(cè)定等特點(diǎn)，成為在線(xiàn)分析儀表中的一枝奇葩。
　　
　　元素分析儀與光譜分析儀檢測(cè)優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比：
　　
　　元素分析儀的優(yōu)點(diǎn)：
　　
　　1.化學(xué)分析法是國(guó)家實(shí)驗(yàn)室所使用的仲裁分析方法，準(zhǔn)確度高。
　　
　　2.對(duì)于各元素之間的干擾可以用化學(xué)試劑屏蔽，做到元素之間互不干擾，曲線(xiàn)可進(jìn)行非線(xiàn)性回歸，確保了檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
　　
　　3.取樣過(guò)程是深入樣品中心和多點(diǎn)采集，更具有代表性，特別是對(duì)于不均勻性樣品和表面處理后的樣品可準(zhǔn)確檢測(cè)。
　　
　　4.應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，局限性小，可建立標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)進(jìn)行測(cè)定，儀器可進(jìn)行曲線(xiàn)自我檢測(cè)。
　　
　　5.購(gòu)買(mǎi)和維護(hù)成本低，維護(hù)比較簡(jiǎn)單。
　　
　　元素分析儀的缺點(diǎn)：
　　
　　1.流程比光譜分析法較多，工作量較大。
　　
　　2.不適用于爐前快速分析。
　　
　　3.對(duì)于檢測(cè)樣品會(huì)因?yàn)槿舆^(guò)程遭到破壞
　　
　　光譜分析儀的優(yōu)點(diǎn)：
　　
　　1.采樣方式靈活，對(duì)于稀有和貴重金屬的檢測(cè)和分析可以節(jié)約取樣帶來(lái)的損耗。
　　
　　2.測(cè)試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過(guò)計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出。
　　
　　3.對(duì)于一些機(jī)械零件可以做到無(wú)損檢測(cè)，而不破壞樣品，便于進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。
　　
　　4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場(chǎng)分析，從而達(dá)到快速檢測(cè)。
　　
　　5.分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。
　　
　　光譜分析儀的缺點(diǎn)：
　　
　　1.對(duì)于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準(zhǔn)確檢測(cè)。
　　
　　2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測(cè)結(jié)果不能做為國(guó)家認(rèn)證依據(jù)。
　　
　　3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對(duì)壟斷的因素，購(gòu)買(mǎi)和維護(hù)成本都比較高，性?xún)r(jià)比較低。
　　
　　4.需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模，對(duì)于小批量樣品檢測(cè)顯然不切實(shí)際。
　　
　　5.模型需要不斷更新，在儀器發(fā)生變化或者標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí)，模型也要變化。
　　
　　6.建模成本很高，測(cè)試成本也就比較大了，當(dāng)然對(duì)于大量樣品檢測(cè)時(shí)，測(cè)試成本會(huì)下降。
　　
　　7.易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響，經(jīng)常出現(xiàn)曲線(xiàn)非線(xiàn)性問(wèn)題，對(duì)檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確度影響較大。

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