方塊電阻測(cè)試儀 導(dǎo)體材料導(dǎo)電薄膜電阻檢測(cè)儀 半導(dǎo)體薄層電阻測(cè)定儀 表面電阻測(cè)量?jī)x方塊電阻量值檢測(cè)儀
是一種依照類似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
方塊電阻測(cè)試儀 導(dǎo)體材料導(dǎo)電薄膜電阻檢測(cè)儀 半導(dǎo)體薄層電阻測(cè)定儀 表面電阻測(cè)量?jī)x方塊電阻量值檢測(cè)儀
型號(hào)DL10-ST-21
DL10-ST-21型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、精度高的特點(diǎn)。
特點(diǎn)：
1采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定，低功耗；
2以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；
3采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示；
4體積≤175mmX90mmX42mm，重量≤300g；
5特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜
6探頭帶抗靜電模塊
技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍按方塊電阻量值大小分為二個(gè)量程檔：
1.方塊電阻1.00～199.99Ω/□；
2.方塊電阻10.0～1999.9Ω/□；
恒流源測(cè)量過(guò)程誤差：≤±0.8%
模數(shù)轉(zhuǎn)換器量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動(dòng)顯示；小數(shù)點(diǎn)同步顯示；
測(cè)量不確定度在整個(gè)量程范圍內(nèi)，測(cè)量不確定度≤5%
四探針探頭規(guī)格間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源9V疊層電池1節(jié)
DL10-ST-21方塊電阻測(cè)試儀可選配HP系列四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格： |
型號(hào)
（Model） | 曲率半徑
（Radius） | 壓力
（loads） | 探針間距
（spacing） | 探針排列
（Arrangement） | HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 | HP-502 | 0.75mm | 100g | 3.8mm | 直線 | HP-503 | 0.1mm | 150g | 1mm | 直線 | HP-504 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 直線 |
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DL10-ST-21方塊電阻測(cè)試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格： |
型號(hào)
（Model） | 曲率半徑
（Radius） | 壓力
（loads） | 探針間距
（spacing） | 探針排列
（Arrangement） | SP-601 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 方形 |
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方塊電阻測(cè)試儀 導(dǎo)體材料導(dǎo)電薄膜電阻檢測(cè)儀 半導(dǎo)體薄層電阻測(cè)定儀 表面電阻測(cè)量?jī)x方塊電阻量值檢測(cè)儀
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