以往，環(huán)境試驗被作為一種產(chǎn)品預(yù)期要經(jīng)受外場實(shí)際環(huán)境的模擬試驗。研制產(chǎn)品時通常把技術(shù)條件規(guī)定的應(yīng)力極限值作為鑒定或考核產(chǎn)品的條件。但是，即使已順利通過了設(shè)計階段的鑒定試驗和生產(chǎn)階段的驗收試驗，殘留的潛在缺陷仍然很多，大量產(chǎn)品使用時可靠性差，平均故障間隔時間（MTBF）短，外場返修頻繁，導(dǎo)致?lián)ＹM(fèi)用、維修費(fèi)用居高不下，用戶或客戶不滿意，嚴(yán)重影響研制部門和制造廠商的信譽(yù)。

傳統(tǒng)的可靠性試驗（包括環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）、可靠性增長試驗和可靠性鑒定試驗等）大多也是在模擬環(huán)境下進(jìn)行的試驗，以ESS為例，早電子產(chǎn)品的ESS 是根據(jù)美國*1979年NAVMAT-P9492《生產(chǎn)篩選試驗大綱》確定的。溫度范圍一般采用技術(shù)條件規(guī)定的上下限，溫度循環(huán)次數(shù)由產(chǎn)品的復(fù)雜程度決定，如表1所示。隨機(jī)振動采用梯型譜，20～80Hz為+3db/OCT，80～350Hz, 為功率譜密度0.02～0.04g2/Hz的平直譜,350～2000Hz為3db/OCT，振動時間為單向10min，三向時每向5min。

 90年制定的國軍標(biāo)GJB1032《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法》參照《MIL-STD-2164-85》，強(qiáng)調(diào)*檢驗要求，規(guī)定環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)包含兩部分試驗。部分為缺陷剔除試驗（盡可能激發(fā)故障、并修復(fù)），要求完成40h溫度循環(huán)和5min隨機(jī)振動。二部分為*檢驗試驗，以驗證篩選的有效性，其應(yīng)力量級與部分試驗相同，要求完成80h溫度循環(huán)中連續(xù)40h循環(huán)*和15min中連續(xù)5min*振動試驗。每一次循環(huán)時間約4h，變溫率為 5℃/min，振動要求與早期標(biāo)準(zhǔn)相一致。可靠性增長試驗則選用模擬現(xiàn)場實(shí)際的綜合環(huán)境條件進(jìn)行。GJB1407-92《可靠性增長試驗》規(guī)定可靠性增長的總試驗時間一般為（5～25）MTBF。這些試驗費(fèi)用昂貴，試驗時間長，而價格和研制周期已成為當(dāng)今市場激烈競爭的焦點(diǎn)。因此研究開發(fā)一種快速、經(jīng)濟(jì)、有效的新的可靠性試驗方法已勢在必行。

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