| 產品說明： 石墨烯薄膜檢測系統 薄膜檢測系統 二維材料檢測系統 導電薄膜檢測系統 產品描述： 石墨烯和二維薄層材料檢測系統是用太赫茲技術檢測薄膜或薄層材料質量的革命性檢測儀器。這個檢測系統對薄膜和二維材料進行充分和快速的質量檢驗，給出的是均勻性和*性的二維Mapping測試結果，快速地反饋所制備材料材料的質量，以避免不必要的錯誤再次發生。它是在納米尺度和宏觀尺度之間架起的一座橋梁。這套檢測設備既適合大規模生產，也適合實驗室檢測。 技術參數和特點： ● 均勻性和*性檢測 ● 對整個樣品的質量控制 ● 樣品尺寸：從2 x 2 mm到200mm x 200mm ● 定制檢測系統的檢測面積可達m2量級(工業用) ● 不同的襯底上生長的薄膜：如PET、石英、玻璃、SiC、Si等 ● 無接觸、無損傷檢測分析 ● 超快檢測：12cm2/分鐘 ● 太赫茲發射器和接收器 ● 單面檢測 ● 無需制備樣品，即時檢測 ● 100um的橫向分辨率 ● 即使探測不同類型的同種材料可一次性進行表征 ● 3軸自定位系統 ● 既適合大規模生產，也適合實驗室檢測 ● 全自動 ● 結實耐用，使用方便 應用： ● 單層石墨烯、雙層石墨烯、多層石墨烯 ● 在SiC基底(襯底)上生長的石墨烯 ● 摻雜石墨烯 ● PEDOT ● 原子層(ALD)沉積樣品 ● 旋涂的感光樹脂的均勻性 ● ITO ● NbC薄膜 ● IZO薄膜 ● ALD – ZnO薄膜 ● 其它二維材料 | 
