hast加速老化箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?或封裝體引腳間因污染造成短路等。

　　hast加速老化箱產(chǎn)品可靠性增長試驗(yàn)的目的是通過對系統(tǒng)性故障的原因進(jìn)行分析,糾正誘發(fā)產(chǎn)品系統(tǒng)性故障的缺陷,使可靠性取得提高,針對誘發(fā)產(chǎn)品系統(tǒng)性故障的缺陷不同,其處理方法也不同。

　　hast加速老化箱一般系統(tǒng)性故障可分為：

　　A類故障：不予糾正的故障

　　不予糾正的故障是指對可靠性增長試驗(yàn)中出現(xiàn)的某些系統(tǒng)性故障不進(jìn)行糾正.不糾正這些故障可能是由于受當(dāng)前國內(nèi)外技術(shù)水平的限制無法糾正,也可能是由于糾正該故障需要大量費(fèi)用,經(jīng)濟(jì)上不合算或無法承受等原因。

　　B類故障：可糾正故障

　　它是故障率超出了容許水平,從糾正措施的效費(fèi)比權(quán)衡后,應(yīng)予糾正的故障。

　　顯然,當(dāng)hast加速老化箱產(chǎn)品的所有系統(tǒng)性故障均被視為A類故障時(shí),產(chǎn)品可靠性將不會增長,因此,為了保證產(chǎn)品可靠性增長較快,應(yīng)提高B類故障在系統(tǒng)性故障中的比例。