牛津儀器推出款快速可靠的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-Strata920,其穩定性和可靠性大大提升,加上圓滑的新設計,使其成為性價比*的分析工具。
牛津儀器非常榮幸地推出新款 X-Strata920 X射線熒光 (XRF) 鍍層測厚和材料分析儀。它結合了大面積正比計數探測器和牛津儀器微聚焦X射線光管,使X射線光束強度大、斑點小,樣品激發更佳,確保同級別中性,分析結果只需要幾秒鐘,從而獲得更有效的過程控制和性價比。 所以,無論您在質量控制過程中分析焊料合金,或鑒定金和珠寶,或測量配件生產中的電鍍厚度,我們相信 X-Strata920 會為您提供理想的解決方案,在一個您滿意的價格上帶給您可靠的分析結果。 X-Strata920 在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。X-Strata920 為這些行業提供了:
X-Strata920 是按操作簡單、度高、物有所值的理念來設計。大面積樣品可用X-Strata的多點分析功能一次完成分析。如果發現問題區域,操作員可以返回到特定點用探針進行詳細的分析。內置相機和實時掃描成像功能確保樣品放置。X-Strata920 甚至不需要操作人員看管就可以確保您在生產過程中的停工期降到zui低。 X-Strata920 配有各種材料篩選應用的校準包,預裝了超過800種應用參數/方法。為了增強消費者信心,X-Strata920 符合測試方法,如ASTM B568和ISO 3497。 X-Strata920 具有*的系統安全性的特點,為日常操作員設定簡單的用戶界面,而管理員級別可進入系統進行維護,并通過自動鎖定功能防止未*的操作。改進的報告功能允許幾秒內將結果導出到Excel表格和創建自定義報告,包括統計數據分析和樣品圖象。 |
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