博曼XRF射線裝置利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。樣品被來自射線管的射線轟擊，產生熒光。通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分。

X射線是看不見的。需要設備將X射線轉化成我們可以理解和處理的信號，以便我們可以從X射線中提取信息。此設備稱為探測器。探測器與數字脈沖器（將X射線轉換為電信號）。探測器通常有三個標準，能量分辨率，探測效率和穩健性。能量分辨率是指分辨能量差很小的兩個光子的能力。探測效率是指記錄X射線的效率。為了實現更好的測量性能，所有博曼設備均配有硅探測器。

軟件

一旦樣品的熒光被收集，軟件會將x射線的強度轉為厚度和成分。軟件包通常包含兩部分，波譜處理和定量分析。

• 波譜處理軟件的功能是提取波譜中x射線的強度。涉及能量校準，波譜穩定，峰鑒別，死時間修正，和峰修正，逃逸峰修正，重疊修正，背景扣除等。
• 定量分析軟件根據XRF強度計算厚度和成分。由于基體效應，強度和厚度/成分不容易確立關系，元素間和層之間的影響。一個元素的熒光可能被另一個元素的熒光吸收或增強。所以一個元素的熒光強度和厚度/成分之間的關系取決于材料中的其他元素。取決這些元素是什么，元素有多少。

進行定量分析

共有兩種定量分析方法,經驗系數法和FP參數法。經驗系數法如干擾系數法，a系數法等。 類似于多項式函數的的影響。這種方法在校準時需要多種標準片，校準只是在標準片很窄的范圍工作。這種方法的優勢是不需要復雜的計算，容易理解和實現。

FP法需要通過理論計算來修正基材效應。理論計算是需要物理方法和基本的物理參數。理論上，FP不需要任何校準并且在比較廣的范圍工作。然而現實中，校準扔然需要使物理參數和測試系統不確定行小化。FP的算法在七十年代建立的，不同的FP軟件差異是沒有意義的。FP參數法是比經驗系數法更難懂的。博曼在軟件上提供經驗系數和FP法兩種方法。

博曼測量軟件采用Emp和FP鍍層厚度演算法

XRF儀器在金屬表面處理/終表面處理中的作用

XRF鍍層測厚是10億美元市場規模的表面處理行業的需求。它同樣是一個很好的科技幫手幫助一些利潤微薄的電鍍企業在低成本實現高品質的鍍層。并且知道他們正在避免產品不合規的風險和原料浪費造成的成本損失。

博曼XRF分析儀為各種元素和合金提供非接觸鍍層厚度測量，測量范圍可從十三號鋁元素到九十二號鈾元素。我們的儀器適用于小部件或復雜形狀的超薄的多層合金鍍層的行業標準。

元素分析

在使用純金屬或合金層來增強產品品質和性能的同時，確定樣品元素成分和確定鍍層厚度一樣很重要。

元素分析的應用

• 涂層和合金的材料分析
• 產品查驗
• 制造過程控制
• 污染物的痕量分析
• 材料研究與開發
• 電子元件和連接器的電鍍成分和厚度分析
• 線路板鍍層分析，例如鎳層和小于0.1μm的金鈀合金層
• 分析進口黃金（和其他貴金屬），珠寶和手表

博曼XRF系統可分析元素成分，同時可測量鍍層厚度，簡化了品質管控的流程。

溶液分析

電鍍槽組件的管理，包括主要組件，痕量組件以及添加劑。這些因素的管控關乎產品品質與成本。

博曼XRF系統提供高精度，非破壞性，快速和用戶友好的方法來分析鍍液的金屬含量。