美國博曼Bowman XRF系統(tǒng)是一種用于金屬鍍層厚度測量的精密臺(tái)式儀器。 專業(yè)的檢測技術(shù)和*的軟件使我們的系統(tǒng)也能夠確定樣品中存在的元素。 我們的XRF儀器同時(shí)可以測量多達(dá)五層金屬厚度，所有鍍層都可以是合金，并且還可以測量元素分析、電鍍液分析，及線路板磷含量的實(shí)際百分比含量。

Bowman XRF系統(tǒng)使用專門設(shè)計(jì)的微點(diǎn)聚焦X射線管作為能源，溫度穩(wěn)定的硅PIN二極管作為探測器，寬帶寬，多通道放大器用于對輻射光子進(jìn)行分類和計(jì)數(shù)。 Bowman Xralizer軟件采用*的算法來測量檢測到的光子中材料的厚度。

通過微焦點(diǎn)相機(jī)對準(zhǔn)X射線光學(xué)軸線選擇樣品的測試區(qū)域。 由聚焦激光控制的平臺(tái)能容納不同高度的樣品。

Bowman XRF鍍層測量系統(tǒng)符合行業(yè)對精度，可靠性和易用性的嚴(yán)格要求。 緊湊，符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)使分析便于每個(gè)應(yīng)用 - 保證價(jià)格可以快速實(shí)現(xiàn)。

四個(gè)樣本階段選項(xiàng)

標(biāo)準(zhǔn) 
固定基地

擴(kuò)展可編程 
XY基座

電動(dòng)/可編程 
XY基座

大旅行延長 
XY基座

全系列產(chǎn)品滿足用戶不同的測量需求

• G系列 珠寶業(yè)的過渡金屬分析
• B系列 小型電鍍樣品
• P系列 “多面手”，適用于電子，常規(guī)電鍍，貴金屬
• O系列 較大測量點(diǎn)的薄膜分析
• M系列 采用µ-spot多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，分析極小測量點(diǎn)的薄膜
• L系列 大型電鍍樣品
• W系列 用于測量微電子領(lǐng)域的小特征

智能化設(shè)計(jì)，強(qiáng)大的分析

• 幾秒內(nèi)完成金屬鍍層無損分析
• 成分分析多可分析25種元素
• 同時(shí)測量多達(dá)五個(gè)涂層，所有涂層都可以是合金
• 基礎(chǔ)參數(shù)法-半定量分析厚度與成分
• 輕松設(shè)置和操作 - 一根USB完成連接
• 簡潔的前控制面板
• 占地面積小，節(jié)約空間
• 輕量化設(shè)計(jì)，方便挪動(dòng)

直觀的用戶界面

• 提供分析靈活性，同時(shí)減少用戶出錯(cuò)機(jī)會(huì)
• 基于.框架 Xralizer 軟件
• 直觀的圖標(biāo)引導(dǎo)用戶界面
• 強(qiáng)大的定性/無標(biāo)樣分析功能
• 功能強(qiáng)大的標(biāo)準(zhǔn)片庫
• 可定制快捷鍵，方便操作
• 靈活的數(shù)據(jù)顯示和導(dǎo)出
• 強(qiáng)大的報(bào)告編輯生成

性能，強(qiáng)大，便利

• 緊密耦合的幾何設(shè)計(jì)極大提高測量效率和精度
• 經(jīng)驗(yàn)證的固態(tài)探測器可提供更高的分辨率，穩(wěn)定性和靈敏度
• 儀器預(yù)熱時(shí)間短，X射線管燈絲壽命長
• 可實(shí)現(xiàn)銀、錫的L線薄膜分析
• 多位置一次濾波器與多規(guī)格準(zhǔn)直器可供選擇
• 靈活的焦距為復(fù)雜形狀或厚度較大的樣品提供測量便利
• 模塊化組件設(shè)計(jì)，維護(hù)簡單