本課題組長期跟蹤研究雜質顆粒的掃描測試技術，1994年完成激光掃描式XLPE電纜絕緣料雜質顆粒測試儀研制，在此基礎上完成研制電子攝像式雜質測試儀。與激光掃描式儀器比較，本儀器分辨力提高了一倍，測試速度提高了四倍，操作使用性能也大大提高，是電纜絕緣料生產過程中的一種重要的檢測設備。
    電子攝像式雜質測置儀原理本儀器的核心部件是電荷耦合固體攝像器件線簡稱CCD，它是由一列（如1024個）14fmiX14nm的光的二極管和電荷耦合位移寄存器組成，它用電荷轉移的方式將光電二極管陣列所接收來的外部光信號產生的光生載流子，在時基信號的控制下順序輸出，將空間連續分布的光強函數變成離散的時間序列的光生電動勢函數。由CCD、光源、機械部分信號處理系統及微機系統組成的測試儀，工作原理如所示。被測料由小型擠出機擠成熔融薄帶，經三輯壓成7mm0.9mm厚連續試樣，經導輥通過CCD電子攝像機物面，成像于光敏元上，如有雜質顆粒通過，便逾住若干光敏元，使其無電荷產生輸出，電壓脈沖序列出現對應“缺口”。電子系統檢測“缺口”寬度便測得顆粒的一維尺寸。
    低通濾波我們把均勻光波照明下，CCD輸出的等幅的離散的時間序列光生電動勢2MHz頻率看成是視頻載波，而將雜質像形成的“缺口”看成是調制在載波上的視頻信號，要測得視頻信號上的缺口寬度，首先要解調（檢波）或稱低通濾波，由于視頻缺口信號很窄，其高頻分量與載波（2MHz）十分接近，故一般的低通濾波器將同時把小雜質顆粒信息一同濾掉，我們經努力研制出由三節濾波器級連電路即在一般低通濾波器上加了兩個帶阻濾波器，使電路的頻率特性“銳截止”很好，滿足了要求，視頻調高時載信號波形及電路幅頻特性如2.2特征點問題當只考慮幾何光學時，放大倍數為1的無象差照相系統中，直徑為2A的顆粒成像在象平面其光強的一維空間分布函數應為：讀寫指示小鍵盤四通道計數器微型打印機息1丨。視頻f低通濾波次微分質化二次微分過零比較觸發器系統孔徑A為光波長，K為與X、D有關常數，因此考慮衍射后顆粒的象函數.
    將微分dl（Xi）信號處理各波形為式極大值I.為照明光源在象平面形成的光強，Xi為象面一維坐標，Xi=0時為光軸位置，由于光衍射作用，位于光軸上的點光源不是S函數，而是即在對應顆粒直徑邊緣處，光強函數的微分值有極值，即光強函數變化zui大處為對應直徑的特征點。對應時間序列視頻信號斜率zui大處“缺口”寬度即對應顆粒直徑。