激光粒度分析儀是通過(guò)檢測(cè)顆粒的散射譜來(lái)測(cè)定顆粒大小、分布等特性，根據(jù)能譜穩(wěn)定與否分為靜態(tài)光散射粒度儀和動(dòng)態(tài)光散射激光粒度儀。由于光線傳播過(guò)程中受到隙孔或顆粒的影響會(huì)在空間干涉而產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象，而衍射和散射的光能角度分布與顆粒大小有關(guān)。結(jié)合電子、計(jì)算機(jī)、光電、機(jī)械等技術(shù)，目前激光粒度分析儀已經(jīng)可以檢測(cè)0.05微米~2000微米量級(jí)的顆粒，覆蓋納米到微米多個(gè)波段，不僅能測(cè)量固體顆粒，還能應(yīng)用于液體粒子，具有較好的檢測(cè)重復(fù)性。與傳統(tǒng)粒度儀相比，激光粒度分析儀測(cè)量結(jié)果更為準(zhǔn)確、測(cè)量速度更塊、動(dòng)態(tài)范圍更大。
激光粒度分析儀由于整合了激光技術(shù)、光電技術(shù)、精密儀器與計(jì)算機(jī)技術(shù)，使得測(cè)量速度、測(cè)量范圍和精度發(fā)生了質(zhì)的飛躍；其操作簡(jiǎn)單、重復(fù)性好，現(xiàn)已成為了*zui為流行的粒度測(cè)量?jī)x器。激光粒度分析儀主要完成粒度測(cè)量和Zeta電位測(cè)量。
選購(gòu)方法
1、激光粒度分析儀測(cè)量范圍粒度范圍寬，適合的應(yīng)用廣。不僅要看其儀器所報(bào)出的范圍，而且還要看超出主檢測(cè)器面積的小粒子散射<0.5μm>如何檢測(cè)。
的途徑是全范圍直接檢測(cè)，這樣才能保證本底扣除的一致性。不同方法的混合測(cè)試，再用計(jì)算機(jī)擬合成一張圖譜，肯定帶來(lái)誤差。
2、激光光源一般選用2mW激光器，功率太小則散射光能量低，造成靈敏度低；另外，氣體光源波長(zhǎng)短，穩(wěn)定性優(yōu)于固體光源。檢測(cè)器因?yàn)榧す庋苌涔猸h(huán)半徑越大，光強(qiáng)越弱，極易造成小粒子信噪比降低而漏檢，所以對(duì)小粒子的分布檢測(cè)能體現(xiàn)儀器的好壞。檢測(cè)器的發(fā)展經(jīng)歷了圓形，半圓形和扇形幾個(gè)階段。
3、使用*的米氏理論
因?yàn)槊资瞎馍⒗碚摲浅?fù)雜，數(shù)據(jù)處理量大，所以有些廠家忽略顆粒本身折光和吸收等光學(xué)性質(zhì)，采用近似的米氏理論，造成適用范圍受限制，漏檢幾率增大等問(wèn)題。
4、準(zhǔn)確性和重復(fù)性指標(biāo)
越高越好。采用NIST標(biāo)準(zhǔn)粒子檢測(cè)。
5、穩(wěn)定性
儀器穩(wěn)定性包括光路的穩(wěn)定性和分散系統(tǒng)的穩(wěn)定性和周圍環(huán)境的影響。一般來(lái)講選用氣體激光器，使用光學(xué)平臺(tái)，有助于光路的穩(wěn)定。內(nèi)部發(fā)熱部件(如50瓦的鎢燈)將影響光路周圍環(huán)境。
穩(wěn)定性指標(biāo)在廠家儀器說(shuō)明中沒(méi)有，用戶只能憑對(duì)于儀器結(jié)構(gòu)的判斷和參觀或詢問(wèn)其他長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)的用戶來(lái)判斷。
6、掃描速度
掃描速度快可提高數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，重復(fù)性和穩(wěn)定性。
不同廠家的儀器掃描速度不同，從1次/秒到1000次/秒。一般來(lái)講，循環(huán)掃描測(cè)試次數(shù)越多，平均結(jié)果的準(zhǔn)確性越好，故速度越高越好；噴射式干法和噴霧更要求速度越高越好；自由降落式干法雖然速度不快，但由于粒子只通過(guò)樣品區(qū)一次，速度也是快一些好。
用戶每天需要處理的樣品量，也是考慮速度的因素。
可自動(dòng)對(duì)中，無(wú)需要換鏡頭，可自動(dòng)校正。
7、使用和維護(hù)的簡(jiǎn)便性
關(guān)于這一點(diǎn)，在購(gòu)買之前往往被忽視，而實(shí)際上直接決定了儀器使用效率和壽命。了解的方法是對(duì)儀器結(jié)構(gòu)的了解和其他已有用戶的反映。
拆卸、清洗是否方便：粒度儀分為主機(jī)和分散器兩部分。而樣品流動(dòng)池總是需要定期清洗的，清洗間隔視樣品性質(zhì)而定。將主機(jī)和分散器合二為一的儀器往往將樣品池深置于儀器內(nèi)部，取出和拆卸均很繁瑣，且極易碰壞光路系統(tǒng)。
8、一定要符合標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
ISO13320標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)激光粒度分析儀的基本要求。在測(cè)量亞微米粒子分布過(guò)程中，采用非激光衍射方法是不符合標(biāo)準(zhǔn)的。
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