濟南微納互信息函數分析法用于檢測顆粒粒徑
王沙，楊志安，任中京
(濟南微納顆粒儀器股份有限公司，山東濟南250022)
摘要：本文將微納互信息函數應用于動態光散射檢測電機轉速的研究，準確得測出電機轉速，這一結果與自相關函數法的結果一致。并且微納互信息函數法是真正意義上的相互關聯，可得到更多系統的動力學信息，這些信息常常被淹沒于噪聲中。
目前正在把微納互信息函數分析法用于檢測顆粒粒徑的實驗當中。希望利用微納互信息函數分析的方法，在動態光散射檢測顆粒粒徑的實驗當中，得到更多的動力學信息。并進一步應用于納米顆粒粒徑的動態光散射檢測中。
本文利用微納互信息函數對動態光散射法測電機轉速的實驗進行了研究，準確測出了電機的轉速。文中比較了微納互信息函數法與自相關函數法[2]兩種方法的優劣。
1. 原理
按Shannon的信息理論，設S表示一組訊號為s1，s2，…，sn的系統，出現s1的概率Ps(s ?)，i = 1，2，…，n。對另一組訊號為q1，q2，…，qn的系統Q，出現qj的概率是P q (qj),j= 1，2，…，n。s ?和qjq同時出現的概率Psq(s ?, qj)。微納互信息的定義為[3]
I(S, Q) 度量的是變量S與Q之間的一般性關聯程度，或比值Psq(s ?, qj)/ Ps(s ?j) Pq(qj) 的整體不平整程度。微納互信息越大，變童S與Q之間的關聯程度越強，系統的不平整程度越高，系統越不均勻；微納互信息越小，S與Q之間的關聯程度越弱，系統的不平整程度越低，系統越均勻。
因為電機轉動是周期性的動力系統，其狀態隨時間的演化可表示成s = x(T)= Sint，則延遲坐標可表示成q = x(t+T)= sin(t+T)，其中T是延遲時間。當延遲T1=0 時，q = x(t+T)= sin(t+0)=sin t，這時s與q是同一變量與，s與q間的關聯zui強，這時I (T1)取極大值。設系統周期是τ，當
T2=τ時，q = x(t+τ)= sin(t+τ)=sint，使微納互信息I (T2)又取極大值，則兩個極大點之差T2 - T1= τ即為系統的周期。所以只要找出微納互信息I的兩個相鄰極大值所對應的極大點T1和T2，其差值τ= T2 - T1就是系統的周期。當周期τ確定后，就可求出轉速。另外利用由微納互信息I (T)的極大值來確定周期，易于辨別和計算。
在測電機轉速的實驗中，由于電機所帶動的轉動圓盤是不*均勻的，在轉動的過程中，從其上面散射的光就會呈現周期性。我們首先用探測器來接收這些散射光，得到散射光的時間序列；其次編制出計算微納互信息的程序，計算出給定延遲時間T值下的微納互信息值I (T)，得出微納互信息函數曲線；zui后利用微納互信息函數曲線，求出轉動的周期性，從而求出轉速。
在光子微納互信息法檢測電機轉速的實驗研究中，主要關心的是測量數據隨延遲時間T的周期性，從而得出電機的轉速。在計算中，對某給定的延遲時間T，令[s,q]=[x(t),x(t+T)]，這時微納互信息I是延遲時間T的函數I (T)。
圖1實驗系統結構示意圖
實驗系統如圖1所示。
1.永磁直流電動機；2.圓盤；3.5.光闌圖；4.透鏡；6.計數器圖
圖2取樣點處光子數隨時間的變化
用直流電動機帶動圓盤轉動，電機轉速可調。在一定的測量時間內，采集的光子數隨時間變化的曲線如圖2所示。從圖3可以看出微納互信息處理周期變化的信號顯現出來。
對一組數據的微納互信息曲線（如圖3）進行相應轉速計算：由微納互信息極大點可知圓盤轉動周期為25 x 2 ms，轉速n = 60/25×2×10-3 = 1200 r/min。所得結果與文[2]所用的自相關函數法（圖4）所計算出的電機轉速相同。這說明把微納互信息函數法應用于動態光散射測電機轉速的實驗中是可行的。
圖3對實驗數據的微納互信息處理
圖4同一組實驗數據的自相關函數圖
對電機采集某一轉速下隨時間變化的光子數，用自編軟件對采集到的數據計算微納互信息函數，可得到微納互信息的函數曲線I (T)。分析微納互信息函數曲線的周期特性，可計算出相應的轉速。
微納互信息函數反映的是系統中的非線性關聯，是將線性的關聯函數對非線性系統的一種推廣，動態光散射領域目前未見到用計算微納互信息函數進行分析的報道。本文中通過計算微納互信息函數，對動態光散射檢測電機轉速的時間序列進行分析，研究表明，微納互信息函數法能準確地測出電機轉速。同時，由于微納互信息函數自身的優點——能實際地反映出數據之間的相互關聯，因此，與自相關函數法比較，微納互信息函數法反映出了更多的動力學信息。目前正在把微納互信息函數分析法用于檢測顆粒粒徑的實驗當中。希望利用微納互信息函數分析的方法，在動態光散射檢測顆粒粒徑的實驗當中得到更多的動力學信息。并進一步應用于納米顆粒粒徑的動態光散射檢測中。
Analysis On the Mutual Information Function
for Testing Dynamic Light Scattering Method
WANG Sha. YANG Zhi-an, REN Zhong-jing
(Science School, Jinan University, Jinan 250022, China)
Abstract: The mutual information function is adapted to develop the experiment of testing the rotational speed of the electrical machinery by the Photon Correlation Technique and picked up the rotational speed's information of the electrical machinery. It indicated that the mutual information function could be applicable to the experiment of testing the electrical machinery by the photon correlation technique as same as the autocorrelation function. At the same time, because of the advantage of the mutual information function, it could actually reflect the mutual correlation of the data and paid more attention to the details. So it could reflect a lot of dynamics’ subtle information.
Key words: mutual information function；dynamic light scattering；autocorrelation function
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