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當(dāng)前位置:武漢纖云科技有限公司>> 高精度光器件測(cè)試儀OFDR-FSC100
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產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地武漢市
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更新時(shí)間:2025-01-28 09:07:22瀏覽次數(shù):180次
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OFDR-FSC100是自主研發(fā)的基于光頻域反射(OFDR)原理的背光反射儀,主要用于光無(wú)源器件測(cè)試,可用于光子芯片在片級(jí)、封裝、集成等檢測(cè)環(huán)節(jié)對(duì)其傳輸損耗進(jìn)行測(cè)量,具有超高的損耗測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍和靈敏度,超高的空間分辨率和損耗定位精度,只需單次掃描即可獲得光纖鏈路各點(diǎn)的分布式回波損耗(RL)和插入損耗(IL)。
該系統(tǒng)亦可選配光纖傳感功能軟件,從而使該系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)多通道同時(shí)采集、分布式光纖應(yīng)變及溫度測(cè)量功能。
產(chǎn)品特點(diǎn):
損耗測(cè)試功能
測(cè)試長(zhǎng)度最長(zhǎng)50m
空間分辨率高達(dá)20um
回?fù)p測(cè)試靈敏度可達(dá)-130dB
回?fù)p測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍80dB
揑損測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍15dB
可提供全套硬、軟件解決方案
傳感測(cè)試功能
測(cè)試長(zhǎng)度最長(zhǎng)100m
空間分辨率可達(dá)1mm@50m
可提供全套硬、軟件解決方案
典型應(yīng)用:
光子芯片傳輸損耗測(cè)量
芯片內(nèi)損耗事件定位分析
光組件內(nèi)部光鏈路損耗分析
芯片內(nèi)光鏈路延時(shí)測(cè)量
分布式光纖應(yīng)變、溫度傳感
3D光纖形狀傳感系統(tǒng)研發(fā)
產(chǎn)品參數(shù):
技術(shù)指標(biāo) | 單位 | TranCT-215 |
損耗測(cè)試功能 | ||
中心波長(zhǎng) | nm | 1550 |
掃描范圍 | nm | 40 |
波長(zhǎng)精度 | pm | 0.1 |
光鏈路測(cè)試長(zhǎng)度 | m | 50 |
空間分辨率 | um | 20 |
回?fù)p測(cè)試范圍 | dB | 0~-125 |
回?fù)p靈敏度 | dB | -130 |
回?fù)p動(dòng)態(tài)范圍 | dB | 80 |
回?fù)p測(cè)量分辨率 | dB | 0.1 |
回?fù)p測(cè)量精度 | dB | ±0.5 |
插損動(dòng)態(tài)范圍 | dB | 15 |
插損分辨率 | dB | 0.1 |
插損精度 | dB | ±0.2 |
測(cè)試頻率 | Hz | 1 |
傳感功能 | ||
空間分辨率 | mm | 1@50m,10@100m |
應(yīng)變測(cè)量范圍 | u? | ±15000 |
應(yīng)變測(cè)量精度 | u? | ±5 |
溫度測(cè)量范圍 | ℃ | -200~1200 |
溫度測(cè)量精度 | ℃ | ±0.2 |
測(cè)試通道數(shù) | - | 標(biāo)準(zhǔn)1,可定制 |
單次測(cè)試時(shí)間 | s | 5 |
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