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當前位置：上海千昌工業設備有限公司>> DANTSIN丹青測長機
| Dantsin | Horizon Setting +系列測長機0.2μ | |||||||||
| 瑞士丹青HS+測長機用于現場快速準確標定和測量相應精度的量具和工件、量規如表類、卡尺、千分尺、缸徑規、環規等，選用長光柵尺保證全程測量，對環境要求低 | ||||||||||
 | 主要特點： 堅固的設計非常適合車間現場使用 操作簡單，快速精確 雙向恒定測力3N 標準配置: 一對炭化鎢外尺寸標準測頭HPA-1 一套 電源適配器 防塵保護置 測試報告、操作手冊各一份 | |||||||||
| HS+ | 500 | 1000 | 1500 | 2000 | 3000 | |||||
| 測量范圍 | 550mm | 1050 mm | 1550 mm | 2050 mm | 3050mm | |||||
| 允許誤差 | [0.7 + L(mm)/1000]μm | |||||||||
| 重復性(2S) | 0.2μm | |||||||||
| 分辨率 | 0.1μm | |||||||||
| 測力 | 雙向恒定測力3N | |||||||||
| 測量系統 | 光柵測量系統 | |||||||||
| 數據輸出 | USB/RS232C | |||||||||
| 測量顯示單元 | 數據處理顯示器 | |||||||||
| 電源單元 | 可充電電池單元 | |||||||||
| Dantsin | Dantsin Labc Nano 系列全自動測長機 | |||||||||
| 瑞上丹青LabcNano系列全自動測長機采用與德國Heidenhain合作定制的新型光柵測量系統，光柵尺長350毫米，測量精度高、大范圍內可測量。基座采用特種材料鑄造，儀器穩定可靠，三軸全自動測量，速度快可有效消除手動操作誤差。高精度的測長機是計量室長度尺寸溯源基準之一。計量室用于檢定校準各種量檢具如:量塊、光面螺紋) 環塞規、光滑錐度環塞規、螺紋錐度環塞規、軸承內外滾道、花鍵量規、卡規、校準桿、尺類、表類。 | ||||||||||
 | LABC Nano全自動測長機特點： 測量范圍 350 mm 光柵尺長度 350 mm 分辨率 0.001um 允許.07 +[L(mm) /2000]um 測量力0-12N 連續可調 電子傳感器測力0.3/0.5N 尾座移動 (X) CNC全自動 氣浮工作臺可沿X軸方向輕松移動 Y軸、Z軸CNC全自動測量找拐點，可有效消除手動操作誤差 可實現遠程控制，降低環境溫度對測量結果的影響 工作臺承重60kg 臺面參寸360X150mm Z軸升降范圍100mm Y軸移動范圍50mm 傾斜調整角度土2 水平旋轉角度土4 Heidenhain高精度新型光柵測量系統 內置溫補系統，實時補償 | |||||||||
| LABC Nano技術參數 | LabcNano350 | LabcNano600 | LabcNano1100 | |||||||
| 測量范圍/光柵長度 | 350mm/350mm | 350mm/350mm | 350mm/350mm | |||||||
| 允許誤差 | [0.7 + L(mm)/1000]μm | |||||||||
| 重復性(2S) | 0.03μm | |||||||||
| 分辨率 | 0.001μm | |||||||||
| 測力 | 0-12N連續可調 | |||||||||
| 尾座移動 (X) | X軸 CNC全自動 | |||||||||
| 工作臺 (YIZ) | Y軸，Z軸 CNC全自動測量找拐點 | |||||||||
| 工作臺承重 | 60kg | |||||||||
| 工作臺尺寸 | 360X150mm | |||||||||
| 工作臺Z軸升降范圍 | 100mm | |||||||||
| 工作臺Y 軸移動范圍 | 50mm | |||||||||
| 工作臺(X)浮動范圍 | 士10mm | |||||||||
| 傾斜調整角度 | +2' | |||||||||
| 水平旋轉角度 | +4 | |||||||||
| 尾座移動速度 | ||||||||||
| 測量系統 | Heidenhain精度新型光柵測量系統 | |||||||||
| 測量顯示單元 | 雙液晶屏顯示:標準DELL電腦 (觸摸屏可選 | |||||||||
| 溫度補償 | 內置溫補系統，實時補償 | |||||||||
| Dantsin | LABCP系列測長機0.07μm | |||||||||
| 瑞上丹青Labcp測長機選用高精度長光柵尺，導軌直線度，材料耐磨性好，可保證高精度全程測量。測量任何尺寸量檢具前無需使用量塊先標定儀器，無傳遞誤差(量塊基準誤差，與被測件不等溫誤差，二次裝夾及多次對中誤差等)。大大提高了測量工作效率，保證了測量精度。測力0-12N連續可調，測力傳感器原理避免了老式砝碼加載因儀器臺面不水平及周圍環境振動帶來的測力誤差。測頭同軸度好，測量工件前無需先作測頭多次對中調整。工作臺沿以器導軌X軸方向位置可自由滑動、鎖緊。方便調整裝夾并測量各種長度量檢具如:量塊、光面(螺紋) 環塞規、卡規、校準桿、尺類、表類。檢定效率，用戶廣泛。 | ||||||||||
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| LABC Nano技術參數 | LABCP300 | LABCP500 | LABCP1000 | |||||||
| 測量范圍/光柵長度 | 300mm/370mm | 550mm/550mm | 1050mm/1050mm | |||||||
| 允許誤差 | ≤0.10+ L(mm)/2000]μm | ≤0.15+ L(mm)/2000]μm | ||||||||
| 重復性(2S) | 0.05μm | |||||||||
| 分辨率 | 0.01μm | |||||||||
| 測力 | 0-12N連續可調 | |||||||||
| 頭座移動速度 | 400mm/s | |||||||||
| 工作臺 | 可自由沿導軌X方向移動 | |||||||||
| 頭座微調范圍 | 10mm | |||||||||
| 測量系統 | Heidenhain精度新型光柵測量系統 | |||||||||
| 測量顯示單元 | 液晶屏顯示:標準DELL電腦 (觸摸屏可選） | |||||||||
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