上海千欣儀器有限公司
傳統的熒光光譜和壽命系統測量的數據不具有空間分辨率，通過微區光譜測量可得到樣品精細結構的數據，本系統可在顯微鏡視野中設置一個AOl（感興趣區域），并測量此區域中樣品的熒光光譜、熒光壽命及熒光圖像，實現這三種數據的共定位測量，避免了類似實驗中，無法保證三種數據的空間一致性的問題。它具有如下特點∶AOI位置和大小精確可調;無需調校光源位置即可保證空間一致性;具有高空間分辨率
系統主要構成∶
1.光譜系統∶ PTI QuantMasterTM TimeMasterTM 系列
2.顯微平臺∶ Nikon系列熒光顯微鏡（其它品牌亦可）
3.顯微光度系統∶ PTI RatioMasterTM 系列熒光光度系統
4.圖像采集系統∶ Andor 系列科研級CCD（制冷型、EM放大型）
主要應用：
空間分辨的各種熒光光譜應用（熒光強度、激發光譜、發射光譜、3D光譜，同步掃描，基于時間的強度等）
空間分辨的各種熒光壽命應用（熒光壽命測量、時間分辨熒光光譜測量）
顯微熒光成像的各種應用（如熒光成像、時間序列成像、三色疊加、形態測量等）
共定位測量
三色熒光疊加
來自單一的15-微米直徑熒光標記乳液滴（左圖）和相同的5×5微米乳液滴區域（右圖）的熒光衰減
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