當(dāng)前位置：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司>>半導(dǎo)體微納檢測儀器>>SENDIRA紅外光譜橢偏儀

SENDIRA紅外光譜橢偏儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價收藏產(chǎn)品

聯(lián)系方式：廖總查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-10-06 09:05:07瀏覽次數(shù)：291次

聯(lián)系我時，請告知來自儀表網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  半導(dǎo)體微納檢測儀器

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：53條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：廖總

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。

詳細(xì)介紹

SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。

橢偏振動光譜

利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

傅立葉紅外光譜儀FTIR適用

集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動光譜。

光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計(jì)的。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學(xué)部件，計(jì)算機(jī)控制角度計(jì)，水平樣品臺，自動準(zhǔn)直透鏡，商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400 cm-1 ～6,000 cm-1 (1.7 µm – 25 µm)光譜范圍內(nèi)提供了的精度和分辨率。

光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作，另外還提供了FTIR軟件。