上海譜束科技有限公司
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儀器簡介：陰極射線發光光譜儀配合客戶掃描電鏡SEM，可以獲得高空間分辨率和光譜分辨率的樣品表面形貌信息，無論是從大塊樣品到納米結構樣品，CL都是作為無損材料表征力的技術之一
儀器簡介：
陰極射線發光光譜儀配合客戶掃描電鏡SEM，可以獲得高空間分辨率和光譜分辨率的樣品表面形貌信息，無論是從大塊樣品到納米結構樣品，CL都是作為無損材料表征力的技術之一。
HORIBA陰極射線發光光譜儀基于反射光路模塊化設計，在諸多應用中都能提供的信號探測靈敏度，無需特別制備樣品，在使用電鏡掃描的同時，可以實現結構分析。
特點：
· 模塊化設計可以直接在電鏡上加裝陰極射線發光光譜儀
· 針對不同測試要求，提供相應輔助附件
· 反射光路設計使得信號收集可以達到，減少信號衰減
· CCD掃描使用SWIFT模式可以10倍速度得到mapping數據
· 全部實現軟件控制操作
技術參數：
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