十堰華飛儀器設備有限公司
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徠卡LeicaDM4000M顆粒度計數分析顯微鏡支持多種國內及國際標準，包括ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19等；支持用戶自定義評級標準
徠卡Leica DM4000M 顆粒度計數分析顯微鏡
支持多種國內及國際標準，包括ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19等；支持用戶自定義評級標準。自動區分金屬和非金屬顆粒，可以對纖維進行統計，可測量顆粒高度。
另外有經濟性顆粒度分析顯微鏡徠卡DMS1000供選擇
功能和特點：
1.自動智能顯微鏡，三軸XYZ電動，XY自動掃描，可對顆粒長度和寬度進行自動實時測量，不受顆粒大小限制；Z軸在掃描過程中自動對焦。三軸可實現對顆粒的長寬高的數據測量。掃描結束后，所有顆粒均完成坐標定位，可方便地隨時觀察單個顆粒。實時更新顯示測量過程中所測顆粒。
2.清潔度專用光路，自動偏光光路，自動識別金屬顆粒、非金屬顆粒、纖維。
3.全自動化光路，所有硬件參數均數字化，所有硬件參數均可自動記錄保存，方便調用，可99%精確實現同一測量條件重復性測量。所有測量參數包括光強、光闌、曝光時間、閥值、放大倍率等參數均自動記錄輸出在自動生成的清潔度專業報告中。
4.一次掃描即可完成所有測量，測量速度快，節約時間成本，并可避免因為載物臺精度造成的像素偏移導致的測量結果偏差。
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