一、斜探頭入射點(diǎn)和探頭的前沿長(zhǎng)度測(cè)試
1、將斜探頭置于CSK-1A試塊的B面上，使斜探頭在R100圓弧圓心上，前后移動(dòng)探頭使圓弧回波達(dá)到較大值（控制在80%波幅）。此時(shí)斜探頭底面與試塊圓心的相交點(diǎn)即為探頭入射點(diǎn)。用鋼尺量出探頭距R100圓弧的距離，記錄下數(shù)據(jù)M
2、探頭入射點(diǎn)據(jù)探頭的前沿長(zhǎng)度: L=100-M.
二、折射角的測(cè)試
1、將70°斜探頭置于CSK-1A試塊的B面上，使斜探頭在R50圓弧面上，前后移動(dòng)探頭使波高達(dá)到80%，用鋼尺量出探頭到試塊端面B面的距離，記下數(shù)據(jù)X。
2、根據(jù)折射角公式，得K1=（X。+L-35）/30 β1=arctanK1，
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定70°探頭誤差范圍：-3°≤△β≤0°為合格。
3、將37°斜探頭置于CSK-1A試塊A面上，前后移動(dòng)探頭使R50的圓弧面的波高達(dá)到80%，用鋼尺量出探頭到試塊A面端面的距離，記錄下數(shù)據(jù)X2，
4、根據(jù)折射角公式，得：K2=（X2+L-35）/70 β2=arctanK2
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定37°斜探頭誤差范圍0°≤△β≤3°為合格。
三、水平線性的測(cè)試
1、將0°直探頭置于csk-1A試塊的厚度為25mm的探測(cè)面上，使厚度為25mm的十次底波顯示在示波屏的10格上，調(diào)整衰減器，使第十次回波到達(dá)50%。
2、計(jì)算偏差值：a=實(shí)測(cè)值-理論值
3、取較大偏差值的值代入公式，
通用/焊縫 ΔL=|Amax|×99%/b
水平線性誤差≤2%為合格
母材 ΔL=|Amax|×99%/0.8b
根據(jù) TB/T2340-2012標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定應(yīng)ΔL≤2%，為合格。
四、垂直線性的測(cè)試
1、將0°直探頭置于cs-1-5試塊上探測(cè)Φ2平底孔，移動(dòng)探頭使Φ2平底孔的波高達(dá)到99%。
2、待反射波穩(wěn)定后，以每次2dB逐次衰減，并記下 每次衰減的波高實(shí)測(cè)值，計(jì)算出實(shí)測(cè)值與理論值的偏差值d。
3、取較大正偏差和較大負(fù)偏差，帶入公式，得Δd=【|d(+)|+|d(-)|】%
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定垂直線性誤差：1、母材探傷儀≤15%為合格。2、焊縫和通用探傷儀≤8%為合格。
五、動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)試
1、將儀器抑制置于“小"，使0°直探頭置于CS-1-5試塊上，使Φ2平底孔的回波達(dá)到99%，記下dB1.然后調(diào)整衰減器使Φ2平底孔的回波達(dá)到0，記下dB。,將后計(jì)算。dB。-dB1≥16dB為合格。
2、將儀器抑制置于“大"，使0°直探頭置于cs-1-5試塊上，使使Φ2平底孔的回波達(dá)到99%，記下dB1，調(diào)整衰減器使Φ2平底孔的回波達(dá)到0，記下dB.，將后計(jì)算dB.-dB1
結(jié)果為2-6dB為合格。
六、盲區(qū)的測(cè)試
1、利用CSK-1A試塊上Φ50孔距兩側(cè)邊緣5mm和10mm的邊距測(cè)盲區(qū)大小，分別將探頭放在CSK-1A試塊A面上測(cè)5mm的盲區(qū)，在側(cè)面上測(cè)10mm盲區(qū)，分別看孔波與始波間是否有波谷且波谷在時(shí)基線上，若谷底不在時(shí)基線上則不能分辨孔波，一般先探10mm邊距，若能分辨則盲區(qū)小于10mm，可再探5mm邊距，若不能分辨則至少5mm是盲區(qū)。
七、分辨力的測(cè)定
1、將0°探頭放在csk-1A試塊槽口上，左右移動(dòng)探頭并調(diào)節(jié)衰減器使85和91兩反射面波高相等并達(dá)到波高的99%，讀出波谷的高度h，代入公式計(jì)算：R=20lg（100/h)。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定 0°探頭分辨力R≥18dB為合格;
2、將斜探頭置于csk-1A試塊上，前后移動(dòng)探頭并調(diào)節(jié)儀器找到Φ50和Φ44兩個(gè)臺(tái)階孔的較高波，再橫向移動(dòng)探頭使Φ50和Φ44兩孔波峰等高并調(diào)節(jié)儀器使其達(dá)到99%波高，讀出波谷的高度h，代入公式計(jì)算：R=20lg（100/h)。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定 斜探頭分辨力R≥14dB為合格
3、若h=0 則取R>30dB.
八，鋼軌探傷儀靈敏度余量的測(cè)試
探傷儀的測(cè)量通道的靈敏度置較高狀態(tài)，抑制置較小，若儀器的電噪聲（不接探頭）電平較高。則降低增益，使電噪聲電平降至滿(mǎn)刻度的10%，設(shè)此時(shí)的衰減器讀數(shù)為S0
1、0°探頭置于WGT-3試塊110mm底面上，70°和37°探頭置于WGT-3試塊深65mm處Φ3mm橫孔作為基準(zhǔn)。
2、保證耦合良好，且與試塊側(cè)面保持平行，前后移動(dòng)探頭，調(diào)節(jié)儀器衰減器，使各基反射體波高達(dá)到80%，此時(shí)讀出衰減器的讀數(shù)S1，代入公式：S’=S1-S0
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：0°、37°和70°靈敏度余量≥40dB。
九、鋼軌探傷儀缺陷檢出能力測(cè)試
在GTS-60或GTS-75試塊上，
將鋼軌探傷儀調(diào)整到實(shí)際鋼軌探傷狀態(tài)，在某一固定的探傷靈敏度和無(wú)誤報(bào)的情況下，應(yīng)能檢出GTS-60試塊上除15°傾斜下裂以外的各種人工缺陷，并能正常報(bào)警。
十、零點(diǎn)調(diào)試（通用探傷儀，9008焊縫探傷儀）
1、將斜探頭置于CSK-1A試塊的B面上，前后移動(dòng)探頭使R100圓弧回波達(dá)到80%，此時(shí)出波的聲程不在100上，調(diào)整細(xì)調(diào)使100圓弧的回波平移到100上，此時(shí)始波進(jìn)入熒光屏的左側(cè)。目的是消除工件表面到晶片的誤差。
2、將直探頭置于csk-1A試塊上的91mm的平臺(tái)上，使91mm的出波達(dá)到80%，此時(shí)的出波聲程不在100上，調(diào)整細(xì)調(diào)使91mm的回波平移到100上，此時(shí)始波進(jìn)入熒光屏的左側(cè)。目的是消除工件表面到晶片的誤差。
十一、信噪比的測(cè)試
0°探頭：在GTS-60或GTS-75試塊上探測(cè)底面回波，當(dāng)波高達(dá)到80%時(shí)的靜態(tài)靈敏度余量大于或等于24dB，信噪比不小于16dB。（意思是：底波高達(dá)到80%時(shí)的在將增益提高16dB底波不出雜波為合格）;
37°探頭：在GTS-60或GTS-75試塊上探測(cè)螺孔和37傾角的3mm的上裂使兩波等高；并使波高達(dá)到80%時(shí)的靜態(tài)靈敏度余量大于或等于22dB，信噪比不小于8dB。（意思是：波高達(dá)到80%在將增益提高8dB傷波和孔波前不出雜波為合格）
70°探頭：在GTS-60或GTS-75試塊上，用二次波探測(cè)直徑4mm平底孔，并使波高達(dá)到80%時(shí)的靜態(tài)靈敏度余量大于或等于20dB，信噪比不小于10dB。; （意思是：直徑4mm平底孔，波高達(dá)到80%在將增益提高10dB直徑4mm平底孔前不出雜波為合格）
十二、斜探頭聲軸偏角測(cè)試
a）0°探頭：將0°探頭放在WGT-3試塊上探測(cè)深度為80mm深的橫孔，沿試塊縱向前后移動(dòng)探頭，并注意保持探頭與試塊側(cè)面平行，使橫孔反射波較高，測(cè)量探頭中心到試塊端頭的距離L，則聲軸偏斜角?用下式計(jì)算：
?=tgˉ1（︱L-120︱/80）
b）斜探頭：將探頭置于CSK-1A號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊25mm厚的表面上，37°探頭探測(cè)試塊側(cè)面的上菱角，70°探頭探測(cè)試塊側(cè)面的下菱角，前后移動(dòng)和左右擺動(dòng)探頭，使試塊菱角反射波較高，然后用量角器測(cè)量探頭中心線與試塊側(cè)面法線之間的夾角，此夾角即為聲軸偏斜角?。
十三、保護(hù)膜衰減值
用帶保護(hù)膜的70°探頭探測(cè)CSK-1A試塊B面R100的圓弧面，前后移動(dòng)探頭并保持探頭與試塊側(cè)面平行，調(diào)節(jié)靈敏度，使R100圓弧面較高反射波達(dá)到80%，記下此時(shí)衰減器讀書(shū)W1，然后去掉保護(hù)膜，保護(hù)探測(cè)條件不變，重復(fù)上面的測(cè)試，使R100圓弧面較高反射波達(dá)到80%，記此時(shí)衰減器的度數(shù)W2.
則：W1和W2之差即為保護(hù)膜的衰減度數(shù)
W=W2-W1≦小于或等于8dB為合格。
十四、鋼軌探傷儀距離幅度特性測(cè)試
1、抑制置“較大"，被測(cè)試探頭須帶保護(hù)膜。
2、70°探頭測(cè)試：用WGT-3試塊，儀器探測(cè)深度不小于100mm，調(diào)節(jié)衰減器，依次探測(cè)深度為10mm、20mm、30mm、40mm、50mm、65mm、70mm的橫通孔，找到各孔的較高回波后在調(diào)節(jié)衰減器使波高達(dá)到80%，并記下相應(yīng)的橫通孔的衰減器讀數(shù)，根據(jù)讀數(shù)的dB值可繪制距離幅度特性曲線，測(cè)試點(diǎn)不少于6個(gè)點(diǎn)。根據(jù)讀數(shù)得dB值可繪制距離幅度特性曲線。
3、37°探頭測(cè)試：用WGT-3試塊校驗(yàn)時(shí)，儀器探測(cè)深度不小于200mm，調(diào)節(jié)衰減器，依據(jù)探測(cè) 深度為20mm、40mm、65mm、80mm、100mm、120mm、150mm的橫通孔，找到各孔的坐高波后使波高達(dá)到80%，并記下相應(yīng)的孔的衰減器讀數(shù)，根據(jù)讀數(shù)得dB值可繪制距離幅度特性曲線。
4、0°探頭測(cè)試：用階梯試塊測(cè)試，儀器探測(cè)深度不小于200mm，調(diào)節(jié)衰減器，依次探測(cè)深度為20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、80mm、100mm、150mm的大平底面，使各底面回波達(dá)到80%，并記下衰減器的讀數(shù)，根據(jù)衰減器讀數(shù)可繪制距離幅度特性曲線。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：TB/T2340-2012
橫波探頭探測(cè)同孔徑、不同聲程的橫通孔；0°探頭探測(cè)不同聲程的大平底，其反射波高的差值ΔW應(yīng)滿(mǎn)足以下要求：
1、0°探頭：在深度20mm到距離幅度特性曲線較高點(diǎn)范圍內(nèi)，ΔW小于或等于12dB，在距離幅度特性曲線較高點(diǎn)到深度150mm范圍內(nèi)，ΔW小于或等于8dB.
2、37°探頭：在深度20mm到距離幅度特性曲線較高點(diǎn)范圍內(nèi)，ΔW小于或等于12dB，在距離幅度特性曲線較高點(diǎn)到深度150mm范圍內(nèi)，ΔW小于或等于8dB.
3、70°探頭：在相當(dāng)于探頭深度10-70mm范圍內(nèi)，ΔW小于或等于12dB。
十五、楔內(nèi)回波幅度△S
0°探頭探測(cè)階梯試塊上反射幅度較高的波（即距離特性曲線幅度較高點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的或與其較接近的底面反射波）。斜探頭則探測(cè)WGT-3試塊上反射幅度較高的φ3mm橫通孔反射波，調(diào)節(jié)衰減器，使上述反射波的較高幅度至滿(mǎn)刻度的80%，記下此時(shí)衰減器的讀書(shū)Sw。將探頭置于空氣中，擦去表面油層，調(diào)節(jié)衰減器，使其靜噪回波幅度達(dá)到滿(mǎn)刻度的80%，設(shè)此時(shí)衰減器的讀數(shù)Ss。則探頭的楔內(nèi)回波幅度△S為Ss-Sw。
0°探頭：ΔS≦-26dB
37°探頭：ΔS≦-30dB
70°探頭：ΔS≦-32dB
十六，阻塞范圍的測(cè)量
測(cè)量通道連接一縱波直探頭并置于階梯試塊50mm厚度處，耦合良好，調(diào)節(jié)儀器靈敏度，使該處底波為滿(mǎn)幅度的80％（相對(duì)測(cè)量通道的基線），然后將儀器靈敏度提高2dB其他旋鈕調(diào)節(jié)器不變，探測(cè)階梯試塊上20mm處底面，使耦合良好，若此處20mm處底波高于80％（注意消除距離補(bǔ)償?shù)挠绊懀﹦t該通道阻塞范圍大于20mm。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定阻塞范圍不大于20mm。
十七、聲束寬度
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：
0°探頭：掃查WGT-3試塊上80mm深直徑3mm橫孔時(shí)N大于或等于25mm。
37°探頭：掃查WGT-3試塊上65mm深直徑3mm橫孔時(shí)N大于或等于15mm。
70°探頭：掃查WGT-3試塊上65mm深直徑3mm橫孔時(shí)N大于或等于60mm。
測(cè)試方法：N的測(cè)量方法為落波刻度減起波刻度。
會(huì)員1.png)