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當(dāng)前位置：北京普林塞斯科技有限公司>>實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備>>輻照計(jì)>> UV-AUV-A 實(shí)驗(yàn)室 紫外 輻照計(jì)-光學(xué)儀器
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)UV-A
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2020-06-04 18:23:07瀏覽次數(shù)：347次
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UV-B實(shí)驗(yàn)室 紫外 輻照計(jì)-光學(xué)儀器
UV-A實(shí)驗(yàn)室 紫外 輻照計(jì)-光學(xué)儀器
FZ-A 輻照計(jì) 實(shí)驗(yàn)室-光學(xué)儀器
PL-132 輻照計(jì) 實(shí)驗(yàn)室 化學(xué)合成儀
UV-B 實(shí)驗(yàn)室 紫外 輻照計(jì)-光學(xué)儀器
| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
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UV-A實(shí)驗(yàn)室 紫外 輻照計(jì)
UV-A 紫外 輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)光譜及角度性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
波長(zhǎng)范圍λ1，峰值波長(zhǎng)λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 用戶二選一 |
波長(zhǎng)范圍λ2，峰值波長(zhǎng)λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
輻照度測(cè)量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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紫外帶外區(qū)雜光 | 0.02% |
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相對(duì)示值誤差 | ±8％（相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)） |
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角度響應(yīng)特性 | ±5% （α≤10°） |
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線性誤差 | ±1% |
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換檔誤差 | ±1% |
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短期不穩(wěn)定性 | ±1%（開(kāi)機(jī)30min后） |
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疲勞特性 | 衰減量<2% |
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零值誤差 | 滿量程的±1% |
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響應(yīng)時(shí)間 | <1秒 |
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使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
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尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） |
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整機(jī)功耗 | ＜0.1VA |
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