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當(dāng)前位置:北京普林塞斯科技有限公司>>實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備>>輻照計(jì)>> UV-AUV-A 實(shí)驗(yàn)室 紫外輻照計(jì)-光學(xué)儀器
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)UV-A
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
聯(lián)系方式:史經(jīng)理查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2020-05-28 10:53:22瀏覽次數(shù):217次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)UV-B實(shí)驗(yàn)室 紫外 輻照計(jì)-光學(xué)儀器
UV-A實(shí)驗(yàn)室 紫外 輻照計(jì)-光學(xué)儀器
FZ-A 輻照計(jì) 實(shí)驗(yàn)室-光學(xué)儀器
PL-132 輻照計(jì) 實(shí)驗(yàn)室 化學(xué)合成儀
UV-B 實(shí)驗(yàn)室 紫外 輻照計(jì)-光學(xué)儀器
產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
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UV-A實(shí)驗(yàn)室紫外輻照計(jì)
UV-A 紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)光譜及角度性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
波長(zhǎng)范圍λ1,峰值波長(zhǎng)λp | (320~400)nm,λP=365nm | 用戶二選一 |
波長(zhǎng)范圍λ2,峰值波長(zhǎng)λp | (375~475)nm,λP=420nm | |
輻照度測(cè)量范圍 | (0.1~199.9×103) μW/cm2 |
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紫外帶外區(qū)雜光 | 0.02% |
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相對(duì)示值誤差 | ±8%(相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)) |
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角度響應(yīng)特性 | ±5% (α≤10°) |
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線性誤差 | ±1% |
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換檔誤差 | ±1% |
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短期不穩(wěn)定性 | ±1%(開(kāi)機(jī)30min后) |
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疲勞特性 | 衰減量<2% |
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零值誤差 | 滿量程的±1% |
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響應(yīng)時(shí)間 | <1秒 |
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使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃;濕度<85%RH |
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尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm;0.2kg |
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電源 | 6F22型9V積層電池(非充電電池) |
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整機(jī)功耗 | <0.1VA |
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